دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability: Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact
دانلود کتاب پیشرفت‌های اخیر در ناپایداری دمایی بایاس منفی PMOS: مشخصه‌سازی و مدل‌سازی معماری دستگاه، تأثیر مواد و فرآیند
مشخصات کتاب
Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability: Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact
ویرایش:
نویسندگان: Souvik Mahapatra
سری:
ISBN (شابک) : 9811661197, 9789811661198
ناشر: Springer
سال نشر: 2021
تعداد صفحات: 334
[322]
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 17 Mb
قیمت کتاب (تومان) : 42,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability: Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پیشرفت‌های اخیر در ناپایداری دمایی بایاس منفی PMOS: مشخصه‌سازی و مدل‌سازی معماری دستگاه، تأثیر مواد و فرآیند نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
