ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Transmission Electron Energy Loss Spectrometry in Materials Science and The EELS Atlas, Second Edition

دانلود کتاب انتقال طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون در علوم مواد و اطلس EELS ، چاپ دوم

Transmission Electron Energy Loss Spectrometry in Materials Science and The EELS Atlas, Second Edition

مشخصات کتاب

Transmission Electron Energy Loss Spectrometry in Materials Science and The EELS Atlas, Second Edition

ویرایش:  
 
سری:  
ISBN (شابک) : 9783527405657, 9783527605491 
ناشر: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA 
سال نشر: 2004 
تعداد صفحات: 471 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 11 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 79,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 9


در صورت تبدیل فایل کتاب Transmission Electron Energy Loss Spectrometry in Materials Science and The EELS Atlas, Second Edition به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب انتقال طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون در علوم مواد و اطلس EELS ، چاپ دوم نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب انتقال طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون در علوم مواد و اطلس EELS ، چاپ دوم

این بسته کتاب/CD مرجعی در مورد طیف‌سنجی اتلاف انرژی الکترون (EELS) با میکروسکوپ الکترونی عبوری، یک تکنیک تثبیت‌شده برای آنالیز شیمیایی و ساختاری نمونه‌های نازک در یک میکروسکوپ الکترونی عبوری، ارائه می‌کند. نویسندگان با توصیف مسائل ابزار دقیق، جمع‌آوری داده‌ها و تجزیه و تحلیل داده‌ها، این تکنیک را در چندین کلاس از مواد، از جمله سرامیک‌ها، فلزات، پلیمرها، مواد معدنی، نیمه‌رساناها و مواد مغناطیسی به کار می‌برند. CD-ROM همراه شامل مجموعه ای از طیف های تجربی است. محتوا:
فصل 1 مقدمه (صفحات 1-19): برنت فولتز
فصل 2 تکنیک های تجربی و ابزار دقیق (صفحات 21-47): Ray F. Egerton
فصل 3 تجزیه و تحلیل کمی EELS ( صفحات 49-96): ریچارد لیپمن
فصل 4 ساختار ریز اتلاف انرژی (صفحات 97-126): پیتر رز
فصل 5 پراش فیلتر شده انرژی (صفحات 127-158): لودویگ ریمر
فصل 6 نگاشت عنصری استفاده از تصویربرداری با فیلتر انرژی (صفحات 159-222): فردیناند هوفر و پیتر واربیکلر
فصل 7 کاوشگر شیمی مواد با استفاده از ELNES (صفحات 223-270): ریچارد مورگان دراموند؟ بریدسون، هرمان ساور و ویلفرد انگل
فصل از EELS به سرامیک، کاتالیزورها و اکسیدهای فلزات انتقالی (صفحات 271-316): J. Bentley و J. Graetz
فصل 9 EELS Analysis of Electronic Structure and Microstructure of Metals (صفحات 317-352): J. K. Okamo. پیرسون، ای. هایتاور، سی سی آن و ب. فولتز
فصل 10 مطالعات اتلاف انرژی الکترون در نیمه هادی ها (صفحات 353-384): فیلیپ ای. باتسون
فصل 11 طیف سنجی اتلاف انرژی الکترون از مواد مغناطیسی 385-صفحه 418): جنیفر ا.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book/CD package provides a reference on electron energy loss spectrometry (EELS) with the transmission electron microscope, an established technique for chemical and structural analysis of thin specimens in a transmission electron microscope. Describing the issues of instrumentation, data acquisition, and data analysis, the authors apply this technique to several classes of materials, namely ceramics, metals, polymers, minerals, semiconductors, and magnetic materials. The accompanying CD-ROM consists of a compendium of experimental spectra. Content:
Chapter 1 Introduction (pages 1–19): Brent Fultz
Chapter 2 Experimental Techniques and Instrumentation (pages 21–47): Ray F. Egerton
Chapter 3 EELS Quantitative Analysis (pages 49–96): Richard Leapman
Chapter 4 Energy Loss Fine Structure (pages 97–126): Peter Rez
Chapter 5 Energy Filtered Diffraction (pages 127–158): Ludwig Reimer
Chapter 6 Elemental Mapping Using Energy Filtered Imaging (pages 159–222): Ferdinand Hofer and Peter Warbichler
Chapter 7 Probing Materials Chemistry Using ELNES (pages 223–270): Richard Morgan Drummond?Brydson, Hermann Sauer and Wilfried Engel
Chapter 8 Application of EELS to Ceramics, Catalysts and Transition Metal Oxides (pages 271–316): J. Bentley and J. Graetz
Chapter 9 EELS Analysis of the Electronic Structure and Microstructure of Metals (pages 317–352): J. K. Okamoto, D. H. Pearson, A. Hightower, C. C. Ahn and B. Fultz
Chapter 10 Electron Energy Loss Studies in Semiconductors (pages 353–384): Philip E. Batson
Chapter 11 Electron Energy Loss Spectroscopy of Magnetic Materials (pages 385–418): Jennifer A. Dooley
Chapter 12 Electron Energy Loss Spectroscopy of Polymers (pages 419–454): Matthew R. Libera and Mark M. Disko





نظرات کاربران