دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: سری: ISBN (شابک) : 9783527405657, 9783527605491 ناشر: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA سال نشر: 2004 تعداد صفحات: 471 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 11 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Transmission Electron Energy Loss Spectrometry in Materials Science and The EELS Atlas, Second Edition به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب انتقال طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون در علوم مواد و اطلس EELS ، چاپ دوم نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این بسته کتاب/CD مرجعی در مورد طیفسنجی اتلاف انرژی الکترون
(EELS) با میکروسکوپ الکترونی عبوری، یک تکنیک تثبیتشده برای
آنالیز شیمیایی و ساختاری نمونههای نازک در یک میکروسکوپ
الکترونی عبوری، ارائه میکند. نویسندگان با توصیف مسائل ابزار
دقیق، جمعآوری دادهها و تجزیه و تحلیل دادهها، این تکنیک را در
چندین کلاس از مواد، از جمله سرامیکها، فلزات، پلیمرها، مواد
معدنی، نیمهرساناها و مواد مغناطیسی به کار میبرند. CD-ROM
همراه شامل مجموعه ای از طیف های تجربی است. محتوا:
فصل 1 مقدمه (صفحات 1-19): برنت فولتز
فصل 2 تکنیک های تجربی و ابزار دقیق (صفحات 21-47): Ray F.
Egerton
فصل 3 تجزیه و تحلیل کمی EELS ( صفحات 49-96): ریچارد لیپمن
فصل 4 ساختار ریز اتلاف انرژی (صفحات 97-126): پیتر رز
فصل 5 پراش فیلتر شده انرژی (صفحات 127-158): لودویگ ریمر
فصل 6 نگاشت عنصری استفاده از تصویربرداری با فیلتر انرژی (صفحات
159-222): فردیناند هوفر و پیتر واربیکلر
فصل 7 کاوشگر شیمی مواد با استفاده از ELNES (صفحات 223-270):
ریچارد مورگان دراموند؟ بریدسون، هرمان ساور و ویلفرد انگل
فصل از EELS به سرامیک، کاتالیزورها و اکسیدهای فلزات انتقالی
(صفحات 271-316): J. Bentley و J. Graetz
فصل 9 EELS Analysis of Electronic Structure and Microstructure
of Metals (صفحات 317-352): J. K. Okamo. پیرسون، ای. هایتاور، سی
سی آن و ب. فولتز
فصل 10 مطالعات اتلاف انرژی الکترون در نیمه هادی ها (صفحات
353-384): فیلیپ ای. باتسون
فصل 11 طیف سنجی اتلاف انرژی الکترون از مواد مغناطیسی 385-صفحه
418): جنیفر ا.
This book/CD package provides a reference on electron energy
loss spectrometry (EELS) with the transmission electron
microscope, an established technique for chemical and
structural analysis of thin specimens in a transmission
electron microscope. Describing the issues of instrumentation,
data acquisition, and data analysis, the authors apply this
technique to several classes of materials, namely ceramics,
metals, polymers, minerals, semiconductors, and magnetic
materials. The accompanying CD-ROM consists of a compendium of
experimental spectra. Content:
Chapter 1 Introduction (pages 1–19): Brent Fultz
Chapter 2 Experimental Techniques and Instrumentation (pages
21–47): Ray F. Egerton
Chapter 3 EELS Quantitative Analysis (pages 49–96): Richard
Leapman
Chapter 4 Energy Loss Fine Structure (pages 97–126): Peter
Rez
Chapter 5 Energy Filtered Diffraction (pages 127–158): Ludwig
Reimer
Chapter 6 Elemental Mapping Using Energy Filtered Imaging
(pages 159–222): Ferdinand Hofer and Peter Warbichler
Chapter 7 Probing Materials Chemistry Using ELNES (pages
223–270): Richard Morgan Drummond?Brydson, Hermann Sauer and
Wilfried Engel
Chapter 8 Application of EELS to Ceramics, Catalysts and
Transition Metal Oxides (pages 271–316): J. Bentley and J.
Graetz
Chapter 9 EELS Analysis of the Electronic Structure and
Microstructure of Metals (pages 317–352): J. K. Okamoto, D. H.
Pearson, A. Hightower, C. C. Ahn and B. Fultz
Chapter 10 Electron Energy Loss Studies in Semiconductors
(pages 353–384): Philip E. Batson
Chapter 11 Electron Energy Loss Spectroscopy of Magnetic
Materials (pages 385–418): Jennifer A. Dooley
Chapter 12 Electron Energy Loss Spectroscopy of Polymers (pages
419–454): Matthew R. Libera and Mark M. Disko