ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation

دانلود کتاب تست SOC (سیستم روی تراشه) برای اتوماسیون تست Plug and Play

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation

مشخصات کتاب

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation

ویرایش: 1 
نویسندگان: , , , , ,   
سری: Frontiers in Electronic Testing 21 
ISBN (شابک) : 9781441953070, 9781475765274 
ناشر: Springer US 
سال نشر: 2002 
تعداد صفحات: 201 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 8 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 47,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب تست SOC (سیستم روی تراشه) برای اتوماسیون تست Plug and Play: مدارها و سیستم ها، مهندسی برق، مهندسی به کمک کامپیوتر (CAD، CAE) و طراحی



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 12


در صورت تبدیل فایل کتاب SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تست SOC (سیستم روی تراشه) برای اتوماسیون تست Plug and Play نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب تست SOC (سیستم روی تراشه) برای اتوماسیون تست Plug and Play



مدارهای مجتمع سیستم روی یک تراشه (SOC) که از هسته‌های تعبیه‌شده تشکیل شده‌اند، اکنون رایج هستند. با این وجود، موانع متعددی برای ادغام سریع و کارآمد سیستم وجود دارد. توسعه آزمایش به عنوان یک گلوگاه بزرگ در طراحی و قابلیت های تولید SOC دیده می شود. تست SOC ها به ویژه در غیاب ساختارهای تست استاندارد، ابزارهای اتوماسیون تست و پروتکل های تست چالش برانگیز است. علاوه بر این، اتصالات طولانی، چگالی بالا، و طراحی های با سرعت بالا منجر به انواع جدیدی از خطاهای مربوط به تداخل و یکپارچگی سیگنال می شود.

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation یک اثر ویرایش شده حاوی سیزده مشارکت است که به جنبه های مختلف تست SOC می پردازد.

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation مرجع ارزشمندی برای محققان و دانشجویان علاقه مند به جنبه های مختلف تست SOC است.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

System-on-a-Chip (SOC) integrated circuits composed of embedded cores are now commonplace. Nevertheless, there remain several roadblocks to rapid and efficient system integration. Test development is seen as a major bottleneck in SOC design and manufacturing capabilities. Testing SOCs is especially challenging in the absence of standardized test structures, test automation tools, and test protocols. In addition, long interconnects, high density, and high-speed designs lead to new types of faults involving crosstalk and signal integrity.

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation is an edited work containing thirteen contributions that address various aspects of SOC testing.

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation is a valuable reference for researchers and students interested in various aspects of SOC testing.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-vii
On IEEE P1500’s Standard for Embedded Core Test....Pages 1-19
An Integrated Framework for the Design and Optimization of SOC Test Solutions....Pages 21-36
On Concurrent Test of Core-Based SOC Design....Pages 37-50
A Novel Reconfigurable Wrapper for Testing of Embedded Core-Based SOCs and its Associated Scheduling Algorithm....Pages 51-70
The Role of Test Protocols in Automated Test Generation for Embedded-Core-Based System ICs....Pages 71-90
CAS-BUS: A Test Access Mechanism and a Toolbox Environment for Core-Based System Chip Testing....Pages 91-109
An Integrated Approach to Testing Embedded Cores and Interconnects Using Test Access Mechanism (TAM) Switch....Pages 111-121
Design for Consecutive Testability of System-on-a-Chip with Built-In Self Testable Cores....Pages 123-137
Deterministic Test Vector Compression/Decompression for Systems-on-a-Chip Using an Embedded Processor....Pages 139-150
Diagnostic Data Compression Techniques for Embedded Memories with Built-In Self-Test....Pages 151-163
Testing for Interconnect Crosstalk Defects Using On-Chip Embedded Processor Cores....Pages 165-174
Signal Integrity: Fault Modeling and Testing in High-Speed SoCs....Pages 175-190
On-Chip Clock Faults’ Detector....Pages 191-200




نظرات کاربران