برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید

09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Scanning Force Microscopy With Applications to Electric Magnetic and Atomic Forces

دانلود کتاب اسکن میکروسکوپ نیرو با کاربرد در نیروهای مغناطیسی و اتمی الکتریکی

مشخصات کتاب

Scanning Force Microscopy With Applications to Electric Magnetic and Atomic Forces

دسته بندی: برق و مغناطیس
ویرایش: Rev Sub 
نویسندگان: Dror Sarid  
سری: Oxford Series in Optical and Imaging Sciences 
ISBN (شابک) : 019509204X, 9781423734567 
ناشر: Oxford University Press, USA 
سال نشر: 1994 
تعداد صفحات: 284 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 12 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 54,000

میانگین امتیاز به این کتاب :
تعداد امتیاز دهندگان : 9

در صورت تبدیل فایل کتاب Scanning Force Microscopy With Applications to Electric Magnetic and Atomic Forces به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب اسکن میکروسکوپ نیرو با کاربرد در نیروهای مغناطیسی و اتمی الکتریکی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب اسکن میکروسکوپ نیرو با کاربرد در نیروهای مغناطیسی و اتمی الکتریکی

از زمان اختراع خود در سال 1982، میکروسکوپ تونل زنی روبشی (STM) کاربران را قادر می سازد تا تصاویری را که ساختار الکترونیکی سطحی را با وضوح اتمی منعکس می کنند، بدست آورند. این فناوری به عنوان یک ابزار مشخصه با کاربرد در فیزیک سطح، شیمی، علم مواد، علوم زیستی و رسانه های ذخیره سازی داده ضروری است. همچنین پتانسیل زیادی در زمینه هایی مانند صنایع نیمه هادی و کنترل کیفیت نوری نشان داده است. Microscopy Force Scanning, Revised Edition، بررسی نسخه قبلی را از بسیاری از موضوعات به سرعت در حال توسعه در مورد نگاشت انواع نیروها در سطوح، از جمله تئوری اساسی، ابزار دقیق، و کاربردها به روز می کند. همچنین شامل تحقیقات جدید مهم در STM و کتابشناسی کاملاً اصلاح شده است. محققان دانشگاهی و صنعتی که از STM استفاده می کنند، یا مایل به دانستن بیشتر در مورد پتانسیل آن هستند، این کتاب را مقدمه ای عالی برای این زمینه به سرعت در حال توسعه خواهند یافت.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Since its invention in 1982, scanning tunneling microscopy (STM) has enabled users to obtain images reflecting surface electronic structure with atomic resolution. This technology has proved indispensable as a characterization tool with applications in surface physics, chemistry, materials science, bio-science, and data storage media. It has also shown great potential in areas such as the semiconductor and optical quality control industries. Scanning Force Microscopy, Revised Edition updates the earlier edition's survey of the many rapidly developing subjects concerning the mapping of a variety of forces across surfaces, including basic theory, instrumentation, and applications. It also includes important new research in STM and a thoroughly revised bibliography. Academic and industrial researchers using STM, or wishing to know more about its potential, will find this book an excellent introduction to this rapidly developing field.

فهرست مطالب

PREFACE TO THE REVISED EDITION......Page 8
PREFACE......Page 10
Contents......Page 16
1.1. Introduction......Page 22
1.2. Stress and Strain......Page 23
1.3. Moments......Page 25
1.4. Spring Constant......Page 26
1.5. The Rayleigh Solution to a Vibrating Lever......Page 28
1.6. The Classical Solution to a Vibrating Lever......Page 30
1.7. Normal Modes......Page 31
1.8. Lumped Systems......Page 33
1.9. Examples......Page 34
1.10. Summary......Page 38
2.2. Bimorph Driver......Page 40
2.3. Effective Spring Constant......Page 42
2.4. Bimorph-Driven Lever......Page 43
2.5. Sample-Driven Lever......Page 53
2.6. Tip-Driven Lever......Page 56
2.7. Summary......Page 58
3.2. General Discussion of Noise......Page 60
3.3. Shot Noise......Page 62
3.5. Laser Intensity Noise......Page 63
3.6. Laser Phase Noise......Page 64
3.7. Thermally Induced Lever Noise......Page 67
3.9. Lever Noise-Limited SNR......Page 70
3.10. Experimental Characterization of Noise......Page 71
3.11. Summary......Page 74
4.2. Theory......Page 76
4.3. Perpendicular Arrangement......Page 78
4.8. Summary......Page 85
5.1. Introduction......Page 86
5.2. Theory......Page 87
5.3. Noise Considerations......Page 89
5.4. Performance of Systems......Page 90
5.5. Summary......Page 94
6.1. Introduction......Page 96
6.2. Theory......Page 97
6.3. Noise Considerations......Page 102
6.4. System Performance......Page 105
6.5. Summary......Page 110
7.1. Introduction......Page 112
7.2. Theory......Page 113
7.3. Noise Considerations......Page 116
7.4. Performance......Page 117
7.5. Summary......Page 120
8.1. Introduction......Page 122
8.2. Theory......Page 123
8.3. Noise Considerations......Page 126
8.4. Performance......Page 128
8.5. Summary......Page 129
9.2. Theory......Page 130
9.3. Noise Considerations......Page 134
9.4. Performance......Page 137
9.5. Summary......Page 138
10.1. Introduction......Page 140
10.2. Theory......Page 141
10.3. Noise Considerations......Page 143
10.4. Performance......Page 146
10.5. Summary......Page 149
11.2. Basic Concepts......Page 150
11.3. Examples......Page 152
11.4. Principles of Operation......Page 158
11.5. Noise Considerations......Page 166
11.6. Applications......Page 167
11.7. Performance......Page 169
11.8. Summary......Page 172
12.2. Basic Concepts......Page 174
12.3. Examples......Page 177
12.4. Principles of Operation......Page 188
12.5. Noise Considerations......Page 194
12.7. Performance......Page 195
12.8. Summary......Page 201
13.1. Introduction......Page 202
13.2. Intermolecular Microscopic Interactions......Page 203
13.3. Intermolecular Macroscopic Interactions......Page 210
13.4. Lever-Tip-Sample Contact Interactions......Page 218
13.5. Lever-Tip-Sample Noncontact Interactions......Page 231
13.6. Experimental Results for the Contact Mode......Page 239
References......Page 254
L......Page 282
S......Page 283
Y......Page 284