دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Radiation Effects on Embedded Systems
دانلود کتاب اثرات تشعشع بر روی سیستم های جاسازی شده
مشخصات کتاب
Radiation Effects on Embedded Systems
ویرایش: 1 نویسندگان: Raoul Velazco, Pascal Fouillat, Ricardo Reis سری: ISBN (شابک) : 1402056451, 9781402056468 ناشر: سال نشر: 2007 تعداد صفحات: 272 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 12 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 59,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Radiation Effects on Embedded Systems به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب اثرات تشعشع بر روی سیستم های جاسازی شده نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب اثرات تشعشع بر روی سیستم های جاسازی شده
این جلد یک نمای کلی از اثرات تشعشع بر روی مدارهای مجتمع ارائه می دهد و دستورالعمل های اصلی را برای مقابله با اثرات تشعشع بر روی قطعات ارائه می دهد. این شامل مجموعه ای از فصول بر اساس آموزش های ارائه شده در مدرسه بین المللی تأثیرات تشعشع بر سیستم های جاسازی شده برای کاربردهای فضایی (SERESSA) است که در مانائوس، برزیل، 20 تا 25 نوامبر 2005 برگزار شد.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
This volume provides an extensive overview of radiation effects on integrated circuits, offering major guidelines for coping with radiation effects on components. It contains a set of chapters based on the tutorials presented at the International School on Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Applications (SERESSA) that was held in Manaus, Brazil, November 20-25, 2005.
فهرست مطالب
Contents......Page 5
Preface......Page 7
Radiation Space Environment......Page 9
Radiation Effects in Microelectronics......Page 18
In-flight Anomalies on Electronic Devices......Page 37
Multi-Level Fault Effects Evaluation......Page 75
Effects of Radiation on Analog and Mixed-Signal Circuits......Page 95
Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for Single-Event Upset Testing......Page 126
Design Hardening Methodologies for ASICs......Page 147
Fault Tolerance in Programmable Circuits......Page 165
Automatic Tools for Design Hardening......Page 186
Test Facilities for SEE and Dose Testing......Page 204
Error Rate Prediction of Digital Architectures: Test Methodology and Tools......Page 236
Using the SEEM Software for Laser SET Testing and Analysis......Page 262
Index......Page 272
