ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Properties of Crystalline Silicon

دانلود کتاب خواص سیلیکون کریستالی

Properties of Crystalline Silicon

مشخصات کتاب

Properties of Crystalline Silicon

ویرایش:  
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 9781591248712, 9780852969335 
ناشر: Institution of Engineering and Technology 
سال نشر: 1999 
تعداد صفحات: 480 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 27 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 36,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 9


در صورت تبدیل فایل کتاب Properties of Crystalline Silicon به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب خواص سیلیکون کریستالی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب خواص سیلیکون کریستالی

سیلیکون، همانطور که در تراشه های سیلیکونی استفاده می شود، ماده ای است که جامعه اطلاعاتی برای قدرت پردازش اطلاعات به آن وابسته است. در سال 1988 INSPEC منبع مرجع استاندارد در مورد خواص سیلیکون را منتشر کرد و از آن زمان به بعد حجم عظیمی از Si R&D با صد هزار مقاله منتشر شده طی سال های 1989-1998 انجام شده است. اکنون، به نفع دانشگاهیان، توسعه دهندگان فرآیند و مهندسان شبیه سازی دستگاه که در زمینه میکروالکترونیک سیلیکون کار می کنند، پروفسور هال، تخصص تخصصی بیش از 100 نویسنده دعوت شده از ایالات متحده، ژاپن و اروپا را گرد هم آورده است که توسط 18 ویراستار فصل هماهنگ شده است تا به طور خلاصه بررسی شود. خواص آن به صورت ساختار یافته


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Silicon, as used in silicon chips, is the material on which the information society depends for its power to process information. In 1988 INSPEC published the standard reference source on silicon properties and since then an enormous amount of Si R&D has taken place, with a hundred thousand papers published over 1989-1998. Now, for the benefit of academics, process developers and device simulation engineers working in the area of silicon microelectronics Prof. Hull has brought together the specialized expertise of over 100 invited authors from the USA, Japan and Europe coordinated by 18 chapter editors to concisely review its properties in a structured way.



فهرست مطالب


Content:
Front Matter
Introduction
• Table of Contents
• Interactive Graphs Table  (150) 1. Melt Growth
2. Epitaxial Growth
3. Structural and Mechanical Properties
4. Thermal Properties
5. Surface Properties and Cleaning
6. Structural Modeling
7. Band Structure
8. Electrical Properties
9. Impurities in Silicon
10. Dopants In Silicon
11. Defect Levels in Silicon
12. Optical Properties
13. Photoconductivity and Photogenerated Carriers
14. Implantation/Irradiation of Silicon
15. Gettering
16. Etching
17. Metal-Silicon Contacts
18. Silicon on Insulator Technology
• Index




نظرات کاربران