دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: نورشناسی ویرایش: 1 نویسندگان: Peter W. Hawkes (Eds.) سری: Advances in Imaging and Electron Physics 163 ISBN (شابک) : 9780123813145 ناشر: Academic Press سال نشر: 2010 تعداد صفحات: 235 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 8 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب اپتیک تجزیه و تحلیل ذرات باردار: فیزیک، اپتیک
در صورت تبدیل فایل کتاب Optics of Charged Particle Analyzers به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب اپتیک تجزیه و تحلیل ذرات باردار نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
پیشرفت در تصویربرداری و فیزیک الکترون دو سریال طولانی را ادغام می کند - پیشرفت در الکترونیک و فیزیک الکترون و پیشرفت در میکروسکوپ نوری و الکترونی. این مجموعه شامل مقالات گسترده ای در مورد فیزیک دستگاه های الکترونی (به ویژه دستگاه های نیمه هادی)، اپتیک ذرات در انرژی های بالا و پایین، میکرولیتوگرافی، علم تصویر و پردازش تصویر دیجیتال، انتشار امواج الکترومغناطیسی، میکروسکوپ الکترونی، و روش های محاسباتی مورد استفاده در همه این حوزه ها است. . * مشارکت دانشمندان برجسته بین المللی و کارشناسان صنعت * بحث در مورد موضوعات داغ و ارائه روندهای تحقیقاتی فعلی و آینده * مرجع و راهنمای ارزشمند برای فیزیکدانان، مهندسان و ریاضیدانان
Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials--Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains. * Contributions from leading international scholars and industry experts * Discusses hot topic areas and presents current and future research trends * Invaluable reference and guide for physicists, engineers and mathematicians
Content:
Title Page
Page ii
Copyright
Page iv
Contributors
Page ix
Preface
Page vii
Peter W. Hawkes
Future Contributions
Pages xi-xiv
Chapter 1 - Optical Interference near Surfaces and its Application in Subwavelength Microscopy
Pages 1-32
W.S. Bacsa
Chapter 2 - Introduction of a Quantum of Time (“chronon”), and its Consequences for the Electron in Quantum and Classical Physics
Pages 33-115
Ruy H.A. Farias, Erasmo Recami
Chapter 3 - Methods and Limitations of Subwavelength Imaging
Pages 117-140
Andrew Neice
Chapter 4 - Identification of Historical Pigments in Wall Layers by Combination of Optical and Scanning Electron Microscopy Coupled with Energy-Dispersive Spectroscopy
Pages 141-163
A.Sever àkapin, P. Ropret
Chapter 5 - Superresolution Imaging—Revisited
Pages 165-218
Markus E. Testorf, Michael A. Fiddy
Contents of Volumes 151-162
Pages 219-222
Subject Index
Pages 223-228