دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: اتوماسیون ویرایش: 1 نویسندگان: Michael Goessel, Vitaly Ocheretny, Egor Sogomonyan, Daniel Marienfeld سری: ISBN (شابک) : 1402084196, 9781402084195 ناشر: Springer سال نشر: 2008 تعداد صفحات: 186 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 5 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب روشهای جدید بررسی همزمان (مرزها در تست الکترونیکی): اتوماسیون، قابلیت اطمینان، ارگونومی و کیفیت ASOIU
در صورت تبدیل فایل کتاب New Methods of Concurrent Checking (Frontiers in Electronic Testing) به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب روشهای جدید بررسی همزمان (مرزها در تست الکترونیکی) نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
نوشته شده توسط تیمی متشکل از دو متخصص برجسته و دو جوان بسیار موفق دانشجوی دکترای سابق، روشهای جدید بررسی همزمان روشهای جدید بررسی همزمان، مانند تکرار جزئی، استفاده از وابستگیهای خروجی، مدارهای مکمل، برابری خود دوگانه، خود دوگانه را شرح میدهد. تکراری و دیگران یک فصل خاص نشان میدهد که چگونه روشهای عمومی جدید بررسی همزمان میتوانند به طور خاص در ساختارهای معمولی برای به دست آوردن نتایج بهینه اعمال شوند. این برای همه انواع جمعکنندهها تا 64 بیت با سطحی از جزئیات که قبلاً در ادبیات ارائه نشده است، مثال زده میشود. متن به وضوح نوشته شده توسط حدود 100 شکل نشان داده شده است. روشهای نوین بررسی همزمان در بسیاری از دورههای دانشگاهی برای دانشجویان کارشناسی ارشد و کارشناسی تایید شده است و مورد توجه دانشجویان و معلمان مهندسی برق و علوم کامپیوتر، محققان و طراحان و همه خوانندگانی است که به طراحی و درک مطالب قابل اعتماد علاقه مند هستند. مدارها و کامپیوترها
Written by a team of two leading experts and two very successful young former PhD students, New Methods of Concurrent Checking describes new methods of concurrent checking, such as partial duplication, use of output dependencies, complementary circuits, self-dual parity, self-dual duplication and others. A special chapter demonstrates how the new general methods of concurrent checking can be more specifically applied to regular structures to obtain optimum results. This is exemplified for all types of adders up to 64 bits with a level of detail never before presented in the literature. The clearly written text is illustrated by about 100 figures. New Methods of Concurrent Checking is approved in many university courses for graduate and undergraduate students, and it is of interest to students and teachers in electrical engineering and computer science, researchers and designers and all readers who are interested in the design and the understanding of reliable circuits and computers.