دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Dr. Narain Arora (auth.)
سری: Computational Microelectronics
ISBN (شابک) : 9783709192498, 9783709192474
ناشر: Springer-Verlag Wien
سال نشر: 1993
تعداد صفحات: 627
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 14 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب مدلهای ماسفت برای شبیهسازی مدار VLSI: تئوری و عمل: مهندسی نرمافزار/برنامهنویسی و سیستمهای عامل، ریاضیات کاربردی/روشهای محاسباتی مهندسی، مواد نوری و الکترونیکی، تحلیل عددی، الکترونیک و میکروالکترونیک، ابزار دقیق
در صورت تبدیل فایل کتاب MOSFET Models for VLSI Circuit Simulation: Theory and Practice به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب مدلهای ماسفت برای شبیهسازی مدار VLSI: تئوری و عمل نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
ترانزیستورهای نیمه هادی اکسید فلز (MOS) بلوک اصلی ساختمان مدارهای مجتمع MOS (I C) هستند. مدارهای مجتمع در مقیاس بسیار بزرگ (VLSI) با استفاده از فناوری MOS به عنوان فناوری غالب در صنعت نیمه هادی ها ظاهر شده اند. در طول دهه گذشته، پیچیدگی MOS IC با سرعت شگفت انگیزی افزایش یافته است. این امر عمدتاً از طریق کاهش ابعاد ترانزیستور MOS علاوه بر بهبود در پردازش محقق می شود. امروزه مدارهای VLSI با بیش از 3 میلیون ترانزیستور روی یک تراشه، با طول کانال موثر یا الکتریکی 0.5 میکرون، در حجم تولید می شوند. طراحی چنین تراشه های پیچیده ای بدون ابزارهای شبیه سازی که به پیش بینی رفتار مدار قبل از ساخت مدارهای واقعی کمک می کنند، عملا غیرممکن است. با این حال، کاربرد شبیه سازها به عنوان ابزاری برای طراحی و تحلیل مدارها به کفایت مدل های دستگاه مورد استفاده در شبیه ساز بستگی دارد. این مشکل با گرایش فناوری به سمت ابعاد دستگاه کوچکتر و کوچکتر تشدید می شود که پیچیدگی مدل ها را افزایش می دهد. ادبیات گسترده ای در مورد مدل سازی این دستگاه های کانال کوتاه موجود است. با این حال، سردرگمی زیادی نیز وجود دارد. اغلب مشخص نیست که از چه مدلی استفاده شود و مقادیر پارامترهای کدام مدل مهم هستند و چگونه آنها را تعیین کنیم. پس از بیش از 15 سال کار در زمینه مدل سازی دستگاه های نیمه هادی، نیاز به کتابی را احساس کردم که بتواند شکاف بین تئوری و عمل مدل سازی ترانزیستور MOS را پر کند. این کتاب تلاشی در این راستا است.
Metal Oxide Semiconductor (MOS) transistors are the basic building block ofMOS integrated circuits (I C). Very Large Scale Integrated (VLSI) circuits using MOS technology have emerged as the dominant technology in the semiconductor industry. Over the past decade, the complexity of MOS IC's has increased at an astonishing rate. This is realized mainly through the reduction of MOS transistor dimensions in addition to the improvements in processing. Today VLSI circuits with over 3 million transistors on a chip, with effective or electrical channel lengths of 0. 5 microns, are in volume production. Designing such complex chips is virtually impossible without simulation tools which help to predict circuit behavior before actual circuits are fabricated. However, the utility of simulators as a tool for the design and analysis of circuits depends on the adequacy of the device models used in the simulator. This problem is further aggravated by the technology trend towards smaller and smaller device dimensions which increases the complexity of the models. There is extensive literature available on modeling these short channel devices. However, there is a lot of confusion too. Often it is not clear what model to use and which model parameter values are important and how to determine them. After working over 15 years in the field of semiconductor device modeling, I have felt the need for a book which can fill the gap between the theory and the practice of MOS transistor modeling. This book is an attempt in that direction.
Front Matter....Pages I-XXII
Overview....Pages 1-14
Review of Basic Semiconductor and pn Junction Theory....Pages 15-68
MOS Transistor Structure and Operation....Pages 69-120
MOS Capacitor....Pages 121-166
Threshold Voltage....Pages 167-229
MOSFET DC Model....Pages 230-324
Dynamic Model....Pages 325-365
Modeling Hot-Carrier Effects....Pages 366-401
Data Acquisition and Model Parameter Measurements....Pages 402-500
Model Parameter Extraction Using Optimization Method....Pages 501-535
SPICE Diode and MOSFET Models and Their Parameters....Pages 536-562
Statistical Modeling and Worst-Case Design Parameters....Pages 563-579
Back Matter....Pages 580-609