دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Umberto Celano (auth.)
سری: Springer Theses
ISBN (شابک) : 9783319395319, 9783319395302
ناشر: Springer International Publishing
سال نشر: 2016
تعداد صفحات: 191
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 8 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب مترولوژی و مکانیزم های فیزیکی در دستگاه های یونی نسل جدید: طیف سنجی و میکروسکوپ، نانوتکنولوژی و مهندسی میکرو، شناسایی و ارزیابی مواد
در صورت تبدیل فایل کتاب Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب مترولوژی و مکانیزم های فیزیکی در دستگاه های یونی نسل جدید نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این پایان نامه اولین مشاهدات مستقیم از شکل سه بعدی، اندازه و
خواص الکتریکی رشته های نانومقیاس را ارائه می کند که توسط یک
تکنیک جدید توموگرافی مبتنی بر میکروسکوپ کاوشگر روبشی به نام
Scalpel SPM ممکن شده است. با استفاده از این فناوری نوآورانه و
مشاهدات در مقیاس نانومتر، نویسنده به بینشهای اساسی در مورد
مکانیسمهای تشکیل رشته دست مییابد، درک مورد نیاز برای
بهینهسازی دستگاه را بهبود میبخشد، و بهطور تجربی پدیدههایی
را مشاهده میکند که قبلاً فقط به صورت تئوری پیشنهاد شده
بودند.
This thesis presents the first direct observations of the
3D-shape, size and electrical properties of nanoscale
filaments, made possible by a new Scanning Probe
Microscopy-based tomography technique referred to as scalpel
SPM. Using this innovative technology and nm-scale
observations, the author achieves essential insights into the
filament formation mechanisms, improves the understanding
required for device optimization, and experimentally observes
phenomena that had previously been only theoretically
proposed.
Front Matter....Pages i-xxiv
Introduction....Pages 1-9
Filamentary-Based Resistive Switching....Pages 11-45
Nanoscaled Electrical Characterization....Pages 47-86
Conductive Filaments: Formation, Observation and Manipulation....Pages 87-113
Three-Dimensional Filament Observation....Pages 115-142
Reliability Threats in CBRAM....Pages 143-150
Conclusions and Outlook....Pages 151-160
Back Matter....Pages 161-175