ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

دانلود کتاب مترولوژی و مکانیزم های فیزیکی در دستگاه های یونی نسل جدید

Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

مشخصات کتاب

Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری: Springer Theses 
ISBN (شابک) : 9783319395319, 9783319395302 
ناشر: Springer International Publishing 
سال نشر: 2016 
تعداد صفحات: 191 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 8 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 69,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب مترولوژی و مکانیزم های فیزیکی در دستگاه های یونی نسل جدید: طیف سنجی و میکروسکوپ، نانوتکنولوژی و مهندسی میکرو، شناسایی و ارزیابی مواد



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 8


در صورت تبدیل فایل کتاب Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب مترولوژی و مکانیزم های فیزیکی در دستگاه های یونی نسل جدید نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب مترولوژی و مکانیزم های فیزیکی در دستگاه های یونی نسل جدید



این پایان نامه اولین مشاهدات مستقیم از شکل سه بعدی، اندازه و خواص الکتریکی رشته های نانومقیاس را ارائه می کند که توسط یک تکنیک جدید توموگرافی مبتنی بر میکروسکوپ کاوشگر روبشی به نام Scalpel SPM ممکن شده است. با استفاده از این فناوری نوآورانه و مشاهدات در مقیاس نانومتر، نویسنده به بینش‌های اساسی در مورد مکانیسم‌های تشکیل رشته دست می‌یابد، درک مورد نیاز برای بهینه‌سازی دستگاه را بهبود می‌بخشد، و به‌طور تجربی پدیده‌هایی را مشاهده می‌کند که قبلاً فقط به صورت تئوری پیشنهاد شده بودند.



توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This thesis presents the first direct observations of the 3D-shape, size and electrical properties of nanoscale filaments, made possible by a new Scanning Probe Microscopy-based tomography technique referred to as scalpel SPM. Using this innovative technology and nm-scale observations, the author achieves essential insights into the filament formation mechanisms, improves the understanding required for device optimization, and experimentally observes phenomena that had previously been only theoretically proposed.




فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-xxiv
Introduction....Pages 1-9
Filamentary-Based Resistive Switching....Pages 11-45
Nanoscaled Electrical Characterization....Pages 47-86
Conductive Filaments: Formation, Observation and Manipulation....Pages 87-113
Three-Dimensional Filament Observation....Pages 115-142
Reliability Threats in CBRAM....Pages 143-150
Conclusions and Outlook....Pages 151-160
Back Matter....Pages 161-175




نظرات کاربران