دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: علمی-مردمی ویرایش: 2 نویسندگان: Eugene Machlin سری: ISBN (شابک) : 008044640X, 9780080446400 ناشر: Elsevier Science سال نشر: 2005 تعداد صفحات: 275 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 3 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Materials Science in Microelectronics I, Second Edition: The Relationships Between Thin Film Processing & Structure به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب علوم مواد در ریز الکترونیک I ، چاپ دوم: روابط بین پردازش و ساختار فیلم نازک نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
لایههای نازک نقش کلیدی در علم مواد میکروالکترونیک بازی میکنند و موضوع لایههای نازک به طور طبیعی به دو عنوان تقسیم میشود: رابطه پردازش/ساختار و رابطه ساختار/خواص. جلد اول علم مواد در میکروالکترونیک بر اولین مورد تمرکز دارد. رابطه بین پردازش و ساختار لایه نازک. وضعیت سطح لایه نازک در طول دوره ای که یک تک لایه وجود دارد - قبل از اینکه در لایه بعدی دفن شود - ساختار نهایی لایه نازک و در نتیجه خواص آن را تعیین می کند. این جلد عوامل تأثیرگذار بالقوه زیر را در نظر میگیرد: عیوب کریستالی، ساختار خالی، ساختار دانه، ساختار رابط در فیلمهای همپایه، ساختار فیلمهای آمورف، و ساختار ناشی از واکنش. یک متن یا اثر مرجع ایدهآل برای دانشجویان و محققان در زمینه مواد. علوم، که نیاز به یادگیری اصول اولیه لایه های نازک دارند.
Thin films play a key role in the material science of microelectronics, and the subject matter of thin-films divides naturally into two headings: processing / structure relationship, and structure / properties relationship.The first volume of Materials Science in Microelectronics focuses on the first relationship - that between processing and the structure of the thin-film. The state of the thin film's surface during the period that one monolayer exists - before being buried in the next layer - determines the ultimate structure of the thin film, and thus its properties. This volume takes into consideration the following potential influencing factors: crystal defects, void structure, grain structure, interface structure in epitaxial films, the structure of amorphous films, and reaction-induced structure.An ideal text or reference work for students and researchers in material science, who need to learn the basics of thin films.