دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces
دانلود کتاب میکروسکوپ نیروی کاوشگر کلوین: اندازه گیری و جبران نیروهای الکترواستاتیک
مشخصات کتاب
Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces
ویرایش: 1 نویسندگان: S. Sadewasser, Th. Glatzel (auth.), Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel (eds.) سری: Springer Series in Surface Sciences 48 ISBN (شابک) : 9783642225659, 9783642225666 ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg سال نشر: 2012 تعداد صفحات: 330 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 11 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 65,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب میکروسکوپ نیروی کاوشگر کلوین: اندازه گیری و جبران نیروهای الکترواستاتیک: سطوح و رابط ها، لایه های نازک، ترمودینامیک، ترمودینامیک مهندسی، انتقال حرارت و جرم
در صورت تبدیل فایل کتاب Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ نیروی کاوشگر کلوین: اندازه گیری و جبران نیروهای الکترواستاتیک نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ نیروی کاوشگر کلوین: اندازه گیری و جبران نیروهای الکترواستاتیک
در طول تقریباً 20 سال میکروسکوپ نیروی کاوشگر کلوین، علاقه فزاینده ای به این تکنیک و کاربردهای آن ایجاد شده است. این کتاب مقدمه ای مختصر از روش ارائه می دهد و تکنیک های آزمایشی مختلف را شرح می دهد. مطالعات پتانسیل سطحی در مورد مواد نیمه هادی، نانوساختارها و دستگاه ها و همچنین کاربرد در مواد مولکولی و آلی شرح داده شده است. وضعیت فعلی پتانسیل سطح در مقیاس اتمی نیز در نظر گرفته شده است. این کتاب مقدمه ای عالی برای تازه واردان به این رشته و به همان اندازه که منبعی ارزشمند برای متخصصان است.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction into the method and describes various experimental techniques. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials. The current state of surface potential at the atomic scale is also considered. This book presents an excellent introduction for the newcomer to this field, as much as a valuable resource for the expert.
فهرست مطالب
Front Matter....Pages i-xiv
Introduction....Pages 1-3
Front Matter....Pages 1-1
Experimental Technique and Working Modes....Pages 7-24
Capacitive Crosstalk in AM-Mode KPFM....Pages 25-44
The Effect of the Measuring Tip and Image Reconstruction....Pages 45-67
Contribution of the Numerical Approach to Kelvin Probe Force Microscopy on the Atomic-Scale....Pages 69-97
Front Matter....Pages 99-99
Electronic Surface Properties of Semiconductor Surfaces and Interfaces....Pages 101-115
Surface Properties of Nanostructures Supported on Semiconductor Substrates....Pages 117-149
Optoelectronic Studies of Solar Cells....Pages 151-174
Electrostatic Force Microscopy Characterization of Low Dimensional Systems....Pages 175-199
Local Work Function of Catalysts and Photoelectrodes....Pages 201-219
Electronic Properties of Metal/Organic Interfaces....Pages 221-241
KPFM and PFM of Biological Systems....Pages 243-287
Measuring Atomic-Scale Variations of the Electrostatic Force....Pages 289-327
Back Matter....Pages 329-331
