دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: نورشناسی ویرایش: 2 نویسندگان: Ivan Padron سری: ISBN (شابک) : 9789535104032 ناشر: InTech سال نشر: 2016 تعداد صفحات: 474 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 38 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب تداخل سنجی - تحقیقات و کاربردها در علم و فناوری: فیزیک، اپتیک
در صورت تبدیل فایل کتاب Interferometry - Research and Applications in Science and Technology به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تداخل سنجی - تحقیقات و کاربردها در علم و فناوری نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب جدیدترین مطالعات در مورد تداخل سنجی و کاربردهای آن در علم و فناوری را ارائه می دهد. این یک طرح کلی از جنبه های نظری و تجربی تداخل سنجی و کاربردهای آنها است. کتاب در دو بخش تقسیم شده است. بخش اول مروری بر تکنیک های مختلف تداخل سنجی و کاربردهای کلی آنها است، در حالی که بخش دوم به کاربردهای تداخل سنجی خاص تر شامل تداخل سنجی برای پلاسماهای همجوشی مغناطیسی تا تداخل سنجی در شبکه های بی سیم اختصاص دارد. این کتاب مرجع عالی کاربردهای تداخل سنجی فعلی در علم و فناوری است. این فرصت را برای افزایش دانش ما در مورد تداخل سنجی و تشویق محققان در توسعه برنامه های کاربردی جدید ارائه می دهد.
This book provides the most recent studies on interferometry and its applications in science and technology. It is an outline of theoretical and experimental aspects of interferometry and their applications. The book is divided in two sections. The first one is an overview of different interferometry techniques and their general applications, while the second section is devoted to more specific interferometry applications comprising from interferometry for magnetic fusion plasmas to interferometry in wireless networks. The book is an excellent reference of current interferometry applications in science and technology. It offers the opportunity to increase our knowledge about interferometry and encourage researchers in development of new applications.