ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Handbook of Microscopy Set: Applications in Materials Science, Solid-State Physics and Chemistry: Vols. 1+2+3

دانلود کتاب کتاب راهنمای مجموعه میکروسکوپی: کاربردها در علم مواد، فیزیک حالت جامد و شیمی: جلد. 1+2+3

Handbook of Microscopy Set: Applications in Materials Science, Solid-State Physics and Chemistry: Vols. 1+2+3

مشخصات کتاب

Handbook of Microscopy Set: Applications in Materials Science, Solid-State Physics and Chemistry: Vols. 1+2+3

ویرایش:  
 
سری:  
ISBN (شابک) : 9783527294442, 9783527619283 
ناشر: VCH Verlagsgesellschaft mbH 
سال نشر: 1997 
تعداد صفحات: 1963 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 91 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 39,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 13


در صورت تبدیل فایل کتاب Handbook of Microscopy Set: Applications in Materials Science, Solid-State Physics and Chemistry: Vols. 1+2+3 به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب کتاب راهنمای مجموعه میکروسکوپی: کاربردها در علم مواد، فیزیک حالت جامد و شیمی: جلد. 1+2+3 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب کتاب راهنمای مجموعه میکروسکوپی: کاربردها در علم مواد، فیزیک حالت جامد و شیمی: جلد. 1+2+3

این هندبوک با پوشش جامع، نوشته و ویرایش شده توسط کارشناسان برجسته در این زمینه، یک اثر مرجع قطعی و به روز است. روش‌های جلد اول و روش‌های II اساس فیزیکی و شیمیایی و قابلیت‌های تکنیک‌های مختلف میکروسکوپی مورد استفاده در علم مواد را به تفصیل شرح می‌دهند. برنامه های حجمی نتایج به دست آمده با همه روش های موجود را برای کلاس های اصلی مواد نشان می دهد و نشان می دهد که کدام تکنیک را می توان با موفقیت در یک ماده خاص به منظور به دست آوردن اطلاعات مورد نظر به کار برد.

با کتاب راهنمای میکروسکوپی ، دانشمندان و مهندسان درگیر در تعیین مشخصات مواد در موقعیتی خواهند بود که به دو سوال کلیدی پاسخ دهند: \"یک تکنیک معین چگونه کار می کند؟\" و \"کدام تکنیک برای مشخص کردن یک ماده خاص مناسب است؟\" محتوا:
فصل 1 فلزات و آلیاژها (صفحات 5-110):
فصل 2 میکروسکوپ سنگ ها و مواد معدنی (صفحات 111-144):
فصل 3 نیمه هادی ها و دستگاه های نیمه هادی (صفحه های 145-205):
فصل 4 مواد نوری الکترونیکی (صفحات 207-233):
فصل 5 ساختارهای دامنه در مواد فرویک (صفحات 235-251):
فصل 6 میکروسکوپی از سرامیک های ساختاری (صفحه های 253-292):
فصل 7 میکروسکوپ مواد گوهرشناسی (صفحات 293-320):
فصل 8 سرامیک های ابررسانا (صفحه ges 321–383):
فصل 9 ساختارهای غیر دوره ای (صفحات 385-410):
فصل 10 مواد پزشکی و دندانپزشکی (صفحات 411-436):
فصل 11 کربن (صفحات 437-482) :
فصل 12 مواد ساختاری مرکب (صفحات 483-506):
فصل 13 ساختار پلیمرها و آنالوگ های مونومر آنها (صفحات 507-582):
فصل 14 مواد هسته ای (صفحات 583-664):
فصل 15 میکروسکوپ مغناطیسی (صفحات 665-687):
فصل 1 ذرات کوچک (صفحات 691-737):
فصل 2 تحولات فاز ساختاری (صفحات 739-750):
فصل 3 آماده سازی تکنیک برای میکروسکوپ الکترونی انتقالی (صفحات 751-801):
فصل 4 مسائل زیست محیطی (صفحه های 803-819):
فصل 5 Hyleography کمی: تعیین داده های کمی از میکروگراف ها (صفحه های 821-833):
فصل 1 مبانی میکروسکوپ نوری (صفحات 7-31):
فصل 2 تضاد نوری ریزساختارها (صفحات 33-53):
فصل 3 میکروسکوپ رامان (صفحات 55-69):
فصل 4 سوم؟ نور بعدی t میکروسکوپ (صفحات 71-82):
فصل 5 میکروسکوپ نوری میدان نزدیک (صفحه های 83-96):
فصل 6 میکروسکوپ مادون قرمز (صفحات 97-115):
فصل 1 تصویربرداری با اشعه ایکس نرم ( صفحات 119-129):
فصل 2 میکرورادیوگرافی اشعه ایکس (صفحات 149-161):
فصل 3 میکروتوموگرافی اشعه ایکس (صفحات 149-161):
فصل 4 میکروسکوپ پرتو ایکس نرم با هولوگرافی (صفحات 163-176):
فصل 5 توپوگرافی پراش پرتو ایکس (صفحات 195-241):
فصل 1 میکروسکوپ صوتی (صفحات 194-241):
فصل 1.1 روش‌های پرتو ثابت: انتقال میکرو الکترون اسپای (صفحات 246-351):
فصل 1.1.2 میکروسکوپ الکترونی با وضوح بالا (صفحات 353-406):
فصل 1.2 میکروسکوپ الکترونی بازتابی (صفحات 407-424):
فصل 1.3 الکترون انرژی؟ تصویربرداری طیف سنجی (صفحات 425-445):
فصل 1.4 میکروسکوپ الکترونی ولتاژ بالا (صفحات 447-465):
فصل 1.5 پراش الکترون پرتو همگرا (صفحات 467-485):
Chapter Electron?E1. میکروسکوپ (صفحات 487-503):
فصل 1.7 میکروفون لورنتس roscopy (صفحات 505-514):
فصل 1.8 روش های هولوگرافی الکترونی (صفحه های 515-536):
فصل 2.1 میکروسکوپ الکترونی روبشی (صفحات 539-561):
فصل 2.2 Scanning Micropagessmission5pyron Electron -594):
فصل 2.3 اسکن میکروسکوپ الکترونی انتقالی: کنتراست Z (صفحات 595-620):
فصل 2.4 میکروسکوپ اسکنر روبشی (SAM) و طیف‌سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس (XPS) (صفحه‌های 646) :
فصل 2.5 میکروآنالیز روبشی (صفحات 641-659):
فصل 2.6 تصویربرداری طیف سنجی جرمی یون ثانویه (صفحات 691-716):
فصل 1 تشدید مغناطیسی هسته ای (صفحات 719-734): فصل 2 میکروسکوپ الکترونی روبشی با تجزیه و تحلیل قطبش (SEMPA) (صفحات 735-749):
فصل 3 میکروسکوپ الکترونی اسپین؟ قطبش کم انرژی (صفحات 751-759):
فصل 1 فوتوالکترون تابش 76- صفحه میکروسکوپ 773):
فصل 2 انتشار میدانی و میکروسکوپ یون میدانی (شامل FIM کاوشگر اتم) (صفحات 775–801):
فصل 1 میکروسکوپ تونل زنی اسکن (صفحه 8) 09-826):
فصل 2 میکروسکوپ نیروی روبشی (صفحات 828-844):
فصل 3 میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (صفحات 845-853):
فصل 4 میکروسکوپ انتشار الکترونی بالستیک (صفحه های 828-858) :
فصل 1 ضبط تصویر در میکروسکوپ (صفحات 885-921):
فصل 2 پردازش تصویر (صفحات 923-952):
فصل 1 میکروسکوپ تصادفی (صفحات 955-962):
فصل 2 هولوگرافی الکترونی کم انرژی و میکروسکوپ نقطه ای؟ (صفحات 963-986):


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Comprehensive in coverage, written and edited by leading experts in the field, this Handbook is a definitive, up-to-date reference work. The Volumes Methods I and Methods II detail the physico-chemical basis and capabilities of the various microscopy techniques used in materials science. The Volume Applications illustrates the results obtained by all available methods for the main classes of materials, showing which technique can be successfully applied to a given material in order to obtain the desired information.

With the Handbook of Microscopy, scientists and engineers involved in materials characterization will be in a position to answer two key questions: "How does a given technique work?", and "Which techique is suitable for characterizing a given material?" Content:
Chapter 1 Metals and Alloys (pages 5–110):
Chapter 2 Microscopy of Rocks and Minerals (pages 111–144):
Chapter 3 Semiconductors and Semiconductor Devices (pages 145–205):
Chapter 4 Optoelectronic Materials (pages 207–233):
Chapter 5 Domain Structures in Ferroic Materials (pages 235–251):
Chapter 6 Microscopy of Structural Ceramics (pages 253–292):
Chapter 7 Microscopy of Gemmological Materials (pages 293–320):
Chapter 8 Superconducting Ceramics (pages 321–383):
Chapter 9 Non?Periodic Structures (pages 385–410):
Chapter 10 Medical and Dental Materials (pages 411–436):
Chapter 11 Carbon (pages 437–482):
Chapter 12 Composite Structural Materials (pages 483–506):
Chapter 13 The Structure of Polymers and Their Monomeric Analogs (pages 507–582):
Chapter 14 Nuclear Materials (pages 583–664):
Chapter 15 Magnetic Microscopy (pages 665–687):
Chapter 1 Small Particles (pages 691–737):
Chapter 2 Structural Phase Transformations (pages 739–750):
Chapter 3 Preparation Techniques for Transmission Electron Microscopy (pages 751–801):
Chapter 4 Environmental Problems (pages 803–819):
Chapter 5 Quantitative Hyleography: The Determination of Quantitative Data from Micrographs (pages 821–833):
Chapter 1 Fundamentals of Light Microscopy (pages 7–31):
Chapter 2 Optical Contrasting of Microstructures (pages 33–53):
Chapter 3 Raman Microscopy (pages 55–69):
Chapter 4 Three?Dimensional Light Microscopy (pages 71–82):
Chapter 5 Near Field Optical Microscopy (pages 83–96):
Chapter 6 Infrared Microscopy (pages 97–115):
Chapter 1 Soft X?Ray Imaging (pages 119–129):
Chapter 2 X?Ray Microradiography (pages 149–161):
Chapter 3 X?Ray Microtomography (pages 149–161):
Chapter 4 Soft X?Ray Microscopy by Holography (pages 163–176):
Chapter 5 X?Ray Diffraction Topography (pages 195–241):
Chapter 1 Acoustic Microscopy (pages 194–241):
Chapter 1.1 Stationary Beam Methods: Transmission Electron Microscopy (pages 246–351):
Chapter 1.1.2 High?Resolution Electron Microscopy (pages 353–406):
Chapter 1.2 Reflection Electron Microscopy (pages 407–424):
Chapter 1.3 Electron Energy?Loss Spectroscopy Imaging (pages 425–445):
Chapter 1.4 High Voltage Electron Microscopy (pages 447–465):
Chapter 1.5 Convergent Beam Electron Diffraction (pages 467–485):
Chapter 1.6 Low?Energy Electron Microscopy (pages 487–503):
Chapter 1.7 Lorentz Microscopy (pages 505–514):
Chapter 1.8 Electron Holography Methods (pages 515–536):
Chapter 2.1 Scanning Electron Microscopy (pages 539–561):
Chapter 2.2 Scanning Transmission Electron Microscopy (pages 563–594):
Chapter 2.3 Scanning Transmission Electron Microscopy: Z Contrast (pages 595–620):
Chapter 2.4 Scanning Auger Microscopy (SAM) and Imaging X?Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) (pages 621–640):
Chapter 2.5 Scanning Microanalysis (pages 641–659):
Chapter 2.6 Imaging Secondary Ion Mass Spectrometry (pages 691–716):
Chapter 1 Nuclear Magnetic Resonance (pages 719–734):
Chapter 2 Scanning Electron Microscopy with Polarization Analysis (SEMPA) (pages 735–749):
Chapter 3 Spin?Polarized Low?Energy Electron Microscopy (pages 751–759):
Chapter 1 Photoelectron Emission Microscopy (pages 763–773):
Chapter 2 Field Emission and Field Ion Microscopy (Including Atom Probe FIM) (pages 775–801):
Chapter 1 Scanning Tunneling Microscopy (pages 809–826):
Chapter 2 Scanning Force Microscopy (pages 828–844):
Chapter 3 Magnetic Force Microscopy (pages 845–853):
Chapter 4 Ballistic Electron Emission Microscopy (pages 855–882):
Chapter 1 Image Recording in Microscopy (pages 885–921):
Chapter 2 Image Processing (pages 923–952):
Chapter 1 Coincidence Microscopy (pages 955–962):
Chapter 2 Low Energy Electron Holography and Point?Projection Microscopy (pages 963–986):





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی