دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: H. Rohrer (auth.), H. J. Güntherodt, D. Anselmetti, E. Meyer (eds.) سری: NATO ASI Series 286 ISBN (شابک) : 9789401040273, 9789401100496 ناشر: Springer Netherlands سال نشر: 1995 تعداد صفحات: 638 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 21 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب نیروهای در روش های اسکن اسکن: فیزیک ماده متراکم، علوم اندازه گیری و ابزار دقیق، سطوح و واسط ها، لایه های نازک، شیمی آلی، علوم زیستی، عمومی، نظری، فیزیک ریاضی و محاسباتی
در صورت تبدیل فایل کتاب Forces in Scanning Probe Methods به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب نیروهای در روش های اسکن اسکن نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
اختراع میکروسکوپ تونل زنی روبشی، میکروسکوپ نیروی اتمی و
میکروسکوپ نوری میدان نزدیک زمینه جدیدی از تحقیقات را گشوده است:
روشهای کاوشگر روبشی (SMP). کیفیت گرفتن تصویر در زمانهای اخیر
پیشرفتهای زیادی داشته است، اما بسیاری از مشکلات اساسی و
حلنشده درباره تعامل بین نوک پروب و نمونه بیپاسخ باقی
ماندهاند.
نیروها در روشهای کاوشگر اسکن شامل 60 مشارکت است که به
این مشکلات اختصاص یافته است. بیشتر مشارکتها بررسیهایی هستند
که اطلاعات فشرده و مرتبط را ارائه میکنند که هم برای دانشجویان
و هم برای متخصصان مناسب است. مشارکتها جنبههای ابزاری و طراحی
میکروسکوپهای نیرو را در محیطهای مختلف (فشار محیط، دمای پایین،
خلاء فوقالعاده بالا، مایعات) پوشش میدهند. تئوری نیز پوشش داده
شده است، از جمله محاسبات abinitio و شبیه سازی
دینامیک مولکولی. خواص مکانیکی در مقیاسهای میکرو و نانو به شدت
مورد بررسی قرار میگیرد، از جمله چسبندگی، اصطکاک و سایش: پدیده
اصطکاک یکی از داغترین سؤالات است.
سایر نکات برجسته عبارتند از پیشرفت در میکروسکوپ نوری میدان
نزدیک و ارتباط آن با نیروها، استفاده از میکروسکوپ نیرو در NMR،
و رعایت خطوط شار در Tc ابررساناها پیشرفت
های اخیر در زیست شناسی و شیمی نیز جلب توجه می کند.
The invention of scanning tunneling microscopy, atomic force
microscopy and near field optical microscopy has opened up a
new field of research: scanning probe methods (SMP). The
quality of image acquisition has made great strides in recent
times, but many fundamental, unsolved problems remain
unanswered about the interaction between probe tip and
sample.
Forces in Scanning Probe Methods contains 60
contributions dedicated to these problems. Most of the
contributions are reviews, presenting condensed, relevant
information, suitable for both students and specialists. The
contributions cover the instrumental aspects and design of
force microscopes in different environments (ambient pressure,
low temperature, ultrahigh vacuum, liquids). Theory is also
covered, including abinitio calculations and
molecular dynamics simulations. Mechanical properties at micro
and nanoscales receive intensive treatment, including adhesion,
friction and wear: the friction phenomenon is one of the most
hotly debated questions.
Other highlights include advances in near field optical
microscopy and its relation to forces, the application of force
microscopy in NMR, and the observance of flux lines in high
Tc superconductors. Recent advances in
biology and chemistry also attract attention.
Front Matter....Pages i-xiii
The Nanometer Age: Challenge and Chance....Pages 1-13
Scanning Probe Microscopy Instrumentation....Pages 15-34
Low Temperature Scanning Force Microscopy....Pages 35-62
Measuring Ultrafast Voltage Signals Using a Scanning Force Microscope....Pages 63-68
Oscillating String as a Force Sensor in Scanning Force Microscopy....Pages 69-78
Electrostatically Actuated Silicon Micromachined Sensors for Scanning Force Microscopy....Pages 79-84
Effect of Overlayer Thickness on the Nanoindentation of SiO 2 /Si....Pages 85-90
Nanostethoscopy: A New Mode of Operation of the Atomic Force Microscope....Pages 91-97
A Multi-Test Instrument Based on Scanning Probe Technologies....Pages 99-104
Hydrophobic Surface Interactions Studied Using a Novel Force Microscope....Pages 105-112
Imaging Local Electric Forces in Organic Thin Films by Scanning Maxwell Stress Microscopy....Pages 113-118
Simultaneous AFM and Local Conductivity Imaging....Pages 119-122
Micromechanical Heat Sensor: Observation of a Chemical Reaction, Photon and Electrical Heat Pulses....Pages 123-131
Forces in Scanning Probe Microscopy....Pages 133-147
Controlled Motion of Xe Atom on Metal Surfaces....Pages 149-155
Van Der Waals Forces and Probe Geometries for Some Specific Scanning Force Microscopy Studies....Pages 157-167
Atomistic Theory of the Interaction Between AFM Tips and Ionic Surfaces....Pages 169-174
Molecular Dynamics Simulation of Atomic-Scale Adhesion, Deformation, Friction, and Modification of Diamond Surfaces....Pages 175-181
Simulation of SFM Images of Adsorbed C 60 and C 70 Molecules....Pages 183-189
Atomic-Scale Metal Adhesion....Pages 191-234
Photons and Forces I: Light Generates Force....Pages 235-248
Photons and Forces 11: Forces Influence Light....Pages 249-262
Interfacial Friction and Adhesion of Wetted Monolayers....Pages 263-271
Coherent Phonon Generation in the Process of Friction....Pages 273-283
Friction Force Microscopy....Pages 285-306
Molecular Scale Study of Domain Boundaries and Frictional Stick-Slip Motion on Lipid Bilayers....Pages 307-312
Two-Dimensional Atomic-Scale Friction Observed with an AFM....Pages 313-318
Normal and Lateral Forces in Friction Force Microscopy....Pages 319-324
Nanotribology and Chemical Sensitivity on a Nanometer Scale....Pages 325-330
Lateral Force Measurements on Phase Separated Polymer Surfaces....Pages 331-336
Friction and Load on Well Defined Surfaces Studied by Atomic Force Microscopy....Pages 337-344
Friction on an Atomic Scale....Pages 345-352
Nanomechanics: — Atomic Resolution and Frictional Energy Dissipation in Atomic Force Microscopy....Pages 353-366
Nanotribology and its Applications to Magnetic Storage Devices and MEMS....Pages 367-395
Lifeime Criteria of Macro- and Microtribological Systems....Pages 397-404
Mechanical Property Evaluations of Solid Surfaces as a Technological Application of SPM....Pages 405-424
Effects of Boundary Lubricants and Metallic Oxides in Steel-Steel Tribological Junctions Studied with the Atomic Force Microscope....Pages 425-430
High-Density Recording Technologies as an Application of SPM....Pages 431-446
Applications of Magnetic Force Microscopy....Pages 447-470
Magnetic Force Microscopy on Thin Film Magnetic Recording Media....Pages 471-476
Analysis of Vortices in Superconductors by Scanning Probe Microscopy....Pages 477-482
Understanding Surface Chemical Processes in Environmental Contamination: New Applications for AFM....Pages 483-488
Force Microscopy of Heavy Ion Irradiated Materials....Pages 489-494
Atomic Force Microscopy as a Tool to Study Surface Roughness Effects in X-Ray Photoelectron Spectroscopy....Pages 495-499
Time Dependence and its Spatial Distribution of Densely Contact-Electrified Electrons on a Thin Silicon Oxide....Pages 501-506
Atomic-Resolution Image of GaAs(110) Surface with an Ultrahigh-Vacuum Atomic Force Microscope (UHV-AFM)....Pages 507-512
Giant Atomic Corrugations on Layered Dichalcogenides Investigated by AFM/LFM....Pages 513-518
Nanometer Scale Machining of Covalent Monolayers Investigated by Combined AFM/LFM....Pages 519-524
Atomic Resolution Imaging of ReS 2 by AFM/LFM....Pages 525-530
Ultra-High-Vacuum Atomic Force Microscopy in the Study of Model Catalysts....Pages 531-536
AFM Observations of Si(111) in Solutions....Pages 537-542
Atomic Scale Force Mapping with the Atomic Force Microscope....Pages 543-549
Imaging Chemical Bonds by SPM....Pages 551-566
Study of Thin Organic Films by Various Scanning Force Microscopes....Pages 567-591
Molecular Arrangement and Mechanical Stability of Self-Assembled Monolayers on Au(111) Under Applied Load....Pages 593-598
Organic Interface Inspection by Scanning Force Microscopy....Pages 599-606
Atomic Force Microscopy of Biological Membranes: Current Possibilities and Prospects....Pages 607-614
Biomolecule Photoimmobilization: Application in Scanning Probe Microscopy....Pages 615-623
Measuring Molecular Adhesion with Force Microscopy....Pages 625-631
Back Matter....Pages 633-644