ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques

دانلود کتاب تحلیل خرابی مدارهای مجتمع: ابزارها و تکنیک ها

Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques

مشخصات کتاب

Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques

ویرایش:  
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 0412145618, 9780412145612 
ناشر: Kluwer Academic Publishers  
سال نشر: 1999 
تعداد صفحات: 255 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 11 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 48,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 15


در صورت تبدیل فایل کتاب Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تحلیل خرابی مدارهای مجتمع: ابزارها و تکنیک ها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب تحلیل خرابی مدارهای مجتمع: ابزارها و تکنیک ها

این کار مرجع "باید" برای متخصصان و محققین نیمه هادی ها درک اساسی از نحوه استفاده از ابزارها و تکنیک های رایج در نیمه هادی های مبتنی بر سیلیکون برای درک علت اصلی خرابی های الکتریکی در مدارهای مجتمع ارائه می دهد.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.





نظرات کاربران