دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: E. A. Stern (auth.), B. K. Teo, D. C. Joy (eds.) سری: ISBN (شابک) : 9781475712407, 9781475712384 ناشر: Springer US سال نشر: 1981 تعداد صفحات: 271 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 6 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب طیفسنجی EXAFS: تکنیکها و کاربردها: طیف سنجی / طیف سنجی، طیف سنجی و میکروسکوپی، شیمی تجزیه، علوم، عمومی
در صورت تبدیل فایل کتاب EXAFS Spectroscopy: Techniques and Applications به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب طیفسنجی EXAFS: تکنیکها و کاربردها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب در مورد طیفسنجی ساختار ظریف جذب پرتو ایکس (EXAFS) از یک سمپوزیوم با همین عنوان که توسط ما در سال 1979 در نشست انجمن تحقیقات مواد (MRS) در بوستون، MA سازماندهی شد، پدید آمد. آن جلسه نه تنها یک مرور کلی از تئوری، ابزار دقیق و عمل طیفسنجی EXAFS که در حال حاضر با پرتوهای فوتون استفاده میشود، فراهم کرد، بلکه انجمنی برای گفتوگوی ارزشمند بین کسانی که از رویکرد مرسوم استفاده میکنند و کسانی که با استفاده از طیفسنجی از دست دادن انرژی الکترون زمین تازهای را میشکنند، ارائه کرد. EELS) برای مطالعات EXAFS. این کتاب شامل مشارکتهای هر دوی این گروهها است و به خوانندگان علاقهمند درمان دقیقی از تمام جنبههای طیفسنجی EXAFS، از تئوری، از طریق در نظر گرفتن ابزار دقیق برای اهداف پرتوی فوتونی و الکترونی، تا توضیحات دقیق از کاربردها و فیزیکی ارائه میدهد. محدودیت های این تکنیک ها در حالی که برخی از مطالب در ابتدا در جلسه MRS ارائه شد، همه فصل ها به طور ویژه برای این کتاب نوشته شده اند و حاوی چیزهای جدید و قابل توجهی هستند.
This book on Extended X-Ray Absorption Fine Structure (EXAFS) Spectroscopy grew out of a symposium, with the same title, organized by us at the 1979 Meeting of the Materials Research Society (MRS) in Boston, MA. That meeting provided not only an overview of the theory, instrumentation and practice of EXAFS Spectroscopy as currently employed with photon beams, but also a forum for a valuable dialogue between those using the conventional approach and those breaking fresh ground by using electron energy loss spectroscopy (EELS) for EXAFS studies. This book contains contributions from both of these groups and provides the interested reader with a detailed treatment of all aspects of EXAFS spectroscopy, from the theory, through consideration of the instrumentation for both photon and electron beam purposes, to detailed descriptions of the applications and physical limitations of these techniques. While some of the material was originally presented at the MRS meeting all of the chapters have been specially written for this book and contain much that is new and significant.
Front Matter....Pages i-viii
Historical Development of EXAFS....Pages 1-4
Theory of Extended X-Ray Absorption Fine Structure....Pages 5-11
Extended X-Ray Absorption Fine Structure (EXAFS) Spectroscopy: Techniques and Applications....Pages 13-58
Understanding the Causes of Non-Transferability of EXAFS Amplitude....Pages 59-79
Near Neighbor Peak Shape Considerations in EXAFS Analysis....Pages 81-88
Disorder Effects in the EXAFS of Metals and Semiconductors in the Solid and Liquid States....Pages 89-101
Structural Studies of Superionic Conduction....Pages 103-125
Extended X-Ray Absorption Fine Structure Studies at High Pressure....Pages 127-137
Structural Evidence for Solutions from EXAFS Measurements....Pages 139-157
EXAFS Studies of Supported Metal Catalysts....Pages 159-162
EXAFS of Amorphous Materials....Pages 163-170
EXAFS of Dilute Systems: Fluorescence Detection....Pages 171-180
EXAFS Studies of Dilute Impurities in Solids....Pages 181-184
Materials Research at Stanford Synchrotron Radiation Laboratory....Pages 185-196
Cornell High Energy Synchrotron Source: CHESS....Pages 197-203
National Synchrotron Light Source (NSLS): An Optimized Source for Synchrotron Radiation....Pages 205-211
Electron Energy Loss Spectroscopy for Extended Fine Structure Studies — an Introduction....Pages 213-216
Extended Core Edge Fine Structure in Electron Energy Loss Spectra....Pages 217-239
Extended Energy Loss Fine Structure Studies in an Electron Microscope....Pages 241-254
A Comparison of Electron and Photon Beams for Obtaining Inner Shell Spectra....Pages 255-267
Some Thoughts Concerning the Radiation Damage Resulting from Measurements of Inner Shell Excitation Spectra Using Electron and Photon Beams....Pages 269-272
Back Matter....Pages 273-275