ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Electron Microbeam Analysis

دانلود کتاب تجزیه و تحلیل مایکروب الکترون

Electron Microbeam Analysis

مشخصات کتاب

Electron Microbeam Analysis

ویرایش: 1 
نویسندگان: , ,   
سری: Mikrochimica Acta 12 
ISBN (شابک) : 9783211823590, 9783709166796 
ناشر: Springer-Verlag Wien 
سال نشر: 1992 
تعداد صفحات: 270 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 7 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 32,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب تجزیه و تحلیل مایکروب الکترون: شیمی تجزیه، علوم پلیمر، شیمی فیزیک



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 15


در صورت تبدیل فایل کتاب Electron Microbeam Analysis به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل مایکروب الکترون نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب تجزیه و تحلیل مایکروب الکترون



این مکمل Mikrochimica Acta حاوی مقالات منتخب از دومین کارگاه انجمن تجزیه و تحلیل میکروپرتو اروپایی (EMAS) \"توسعه‌ها و کاربردهای مدرن در تجزیه و تحلیل میکروپرتو\" است که در می 1991 در دوبرونیک (یوگسلاوی) برگزار شد. EMAS در سال 1987 توسط اعضای تقریباً تمام کشورهای اروپایی به منظور تحریک تحقیق، کاربرد و توسعه انواع روش‌های میکروبیم تأسیس شد. یکی از مهم‌ترین فعالیت‌های EMAS، سازماندهی کارگاه‌های دوسالانه برای نشان دادن وضعیت فعلی و روند توسعه روش‌های میکروبیم است. برای این جلسه، EMAS موضوعات زیر را برجسته کرد: میکروآنالیز پرتو الکترونی (EPMA) لایه‌های نازک و تحلیل کمی عناصر فوق سبک، طیف‌سنجی الکترونی اوگر (AES)، طیف‌سنجی از دست دادن انرژی الکترون (EELS)، وضوح بالا. میکروسکوپ الکترونی عبوری (HRTEM)، تجزیه و تحلیل کمی نمونه‌های بیولوژیکی و میکروآنالیز پرتو الکترونی بدون استاندارد. هفت سخنرانی مقدماتی و تقریباً هفتاد ارائه پوستر توسط سخنرانان دوازده کشور اروپایی و دو کشور غیر اروپایی (ایالات متحده آمریکا و آرژانتین) ارائه شد. نمی توان فرض کرد که همه زمینه های تحقیقاتی در اروپا به درستی ارائه شده است، اما یک روند مشخص قابل تشخیص است. EPMA با طیف سنجی پراکندگی طول موج (WDS) یا طیف سنجی پراکنده انرژی (EDS) روشی است که تا حد زیادی گسترده ترین کاربرد را دارد و به دنبال آن TEM با EELS و سپس AES قرار دارد. همچنین پیشنهادات جالبی برای توسعه بیشتر دستگاه های جدید با زمینه های کاربردی جدید وجود دارد. کاربردها به شدت به سمت علم مواد (لایه های نازک در میکروالکترونیک و مجراهای نیمه کانفی)، سرامیک و متالورژی، و به دنبال آن تجزیه و تحلیل نمونه های بیولوژیکی و معدنی تعصب دارند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This supplement of Mikrochimica Acta contains selected papers from the Second Workshop of the European Microbeam Analysis Society (EMAS) "Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis", on which took place in May 1991 in Dubrovnik (Yugoslavia). EMAS was founded in 1987 by members from almost all European countries, in order to stimulate research, applications and development of all forms of microbeam methods. One of the most important activities EMAS is the organisation of biannual workshops for demonstrating the current status and developing trends of microbeam methods. For this meeting, EMAS chose to highlight the following topics: electron-beam microanalysis (EPMA) of thin films and quantitative analysis of ultra-light elements, Auger electron spectroscopy (AES), electron energy loss spec­ trometry (EELS), high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM), quantitative analysis of biological samples and standard-less electron-beam microanalysis. Seven introductory lectures and almost seventy poster presentations were given by speakers from twelve European and two non-European (U.S.A. and Argentina) countries were made. One cannot assume that all fields of research in Europe were duly represented, but a definite trend is discernible. EPMA with wavelength-dispersive spectrometry (WDS) or energy-dispersive spectrometry (EDS) is the method with by far the widest range of applications, followed by TEM with EELS and then AES. There are also interesting suggestions for the further development of new appa­ ratus with new fields of application. Applications are heavily biased towards materials science (thin films in microelectronics and semicon­ ductors), ceramics and metallurgy, followed by analysis of biological and mineral samples.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages I-IX
EPMA—A Versatile Technique for the Characterization of Thin Films and Layered Structures....Pages 1-17
Quantitative EPMA of the Ultra-Light Elements Boron Through Oxygen....Pages 19-36
Auger Microscopy and Electron Probe Microanalysis....Pages 37-52
Quantitative X-Ray Microanalysis of Ultra-Thin Resin-Embedded Biological Samples....Pages 53-74
Analytical and High-Resolution Electron Microscopy Studies at Metal/Ceramic Interfaces....Pages 75-92
Quantitative Electron Probe Microanalysis of Multi-layer Structures....Pages 93-97
Comparison of Φ (ρz) Curve Models in EPMA....Pages 99-105
Quantitative Electron Probe Microanalysis: New Accurate Φ (ρz) Description....Pages 107-115
A Modular Universal Correction Procedure for Quantitative EPMA....Pages 117-124
Monte Carlo Simulation of Backscattered and Secondary Electron Profiles....Pages 125-129
An Electron Scattering Model Applied to the Determination of Film Thicknesses Using Electron Probe Microanalysis....Pages 131-137
Calculation of Depth Distribution Functions for Characteristic and for Continuous Radiation....Pages 139-146
A Method for In-Situ Calibration of Semiconductor Detectors....Pages 147-152
Background Anomalies in Electron Probe Microanalysis Caused by Total Reflection....Pages 153-160
Automatic Analysis of Soft X-Ray Emission Spectra Obtained by EPMA....Pages 161-171
The Scanning Very-Low-Energy Electron Microscope (SVLEEM)....Pages 173-177
To the Backscattering Contrast in Scanning Auger Microscopy....Pages 179-186
Design Consideration Regarding the Use of an Accelerator Mass Spectrometer in Ion Microanalysis....Pages 187-190
Accurate Estimation of Uncertainties in Quantitative Electron Energy-Loss Spectrometry....Pages 191-195
An EELS System for a TEM/STEM-Performance and Its Use in Materials Science....Pages 197-204
Quantitative X-Ray Microanalysis of Bio-Organic Bulk Specimens....Pages 205-212
Quantitative Analysis of (Y 2 O 3 ) x (ZrO 2 ) 1-x Films on Silicon by EPMA....Pages 213-219
EPMA of Surface Oxide Films....Pages 221-227
Non-Destructive Determination of Ion-Implanted Impurity Distribution in Silicon by EPMA....Pages 229-233
An Electron Spectroscopy Study of a-SiN x Films....Pages 235-239
Electron Probe Microanalysis of Glass Fiber Optics....Pages 241-245
Quantitative Microanalysis of Low Concentrations of Carbon in Steels....Pages 247-254
Electron Configuration of the Valence-Conduction Band of the Mineral Wustite....Pages 255-259
Structural Analysis of Silver Halide Cubic Microcrystals with Epitaxial or Conversion Growths by STEM-EDX....Pages 261-268
Characterization of the Bony Matrix of the Otic Capsule in Human Fetuses by EPMA....Pages 269-273
Overview....Pages 275-278




نظرات کاربران