ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Electron Backscatter Diffraction in Materials Science

دانلود کتاب پراش الکترون پشتی الکترون در علم مواد

Electron Backscatter Diffraction in Materials Science

مشخصات کتاب

Electron Backscatter Diffraction in Materials Science

دسته بندی: فیزیک حالت جامد
ویرایش: 1 
نویسندگان: , ,   
سری:  
ISBN (شابک) : 030646487X, 9780306464874 
ناشر:  
سال نشر: 2000 
تعداد صفحات: 342 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 59 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 37,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب پراش الکترون پشتی الکترون در علم مواد: فیزیک، فیزیک حالت جامد



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 13


در صورت تبدیل فایل کتاب Electron Backscatter Diffraction in Materials Science به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب پراش الکترون پشتی الکترون در علم مواد نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب پراش الکترون پشتی الکترون در علم مواد

بافت کریستالوگرافی یا جهت ترجیحی مدت‌هاست که بر خواص مواد تأثیر می‌گذارد. از نظر تاریخی، ابزار به دست آوردن چنین داده‌های بافتی استفاده از پرتو ایکس یا پراش نوترون برای اندازه‌گیری بافت حجیم، یا میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) یا کانال‌گذاری الکترونی برای اطلاعات کریستالوگرافی محلی بوده است. در سال‌های اخیر، ما شاهد ظهور یک تکنیک خصوصی‌سازی جدید برای بررسی ریزبافت مواد بوده‌ایم. این پیشرفت عمدتاً از طریق نمایه سازی خودکار الگوهای پراش پس پراکندگی الکترون (EBSD) حاصل شده است. اولین سیستم تجاری موجود در سال 1994 معرفی شد و از آن زمان رشد فروش در سراسر جهان چشمگیر بوده است. این امر با کاربرد گسترده در مسائل علم مواد مانند ریزبافت، شناسایی فاز، توزیع خصوصیات مرزی دانه، ریزساختارهای تغییر شکل و غیره همراه بوده است و شواهدی است که نشان می‌دهد این تکنیک در برخی موارد می‌تواند جایگزین بررسی‌های زمان‌بر TEM یا پراش اشعه ایکس شود. . هدف این کتاب ارائه پایه های اساسی برای EBSD است. شکل‌گیری و تفسیر الگوهای EBSD و پیش‌بینی gnomonic به عنوان چارچوبی برای توصیف مواد با استفاده از EBSD توصیف می‌شوند. بازنمایی سنتی بافت در فضای جهت‌گیری از نظر پیش‌بینی‌های استریوگرافی، شکل‌های قطب، شکل‌های قطب معکوس، و توابع توزیع جهت‌گیری قبل از معرفی نمایش رودریگز-فرانک از بافت کریستالوگرافی مورد بحث قرار می‌گیرد. سپس اصول EBSD خودکار و دقت اندازه گیری EBSD مورد بحث قرار می گیرد. سخت افزار و نرم افزار فعلی و همچنین چشم اندازهای آینده برای تجزیه و تحلیل مجموعه داده های EBSD بررسی می شوند. ذکر مختصری از معیار مورد نیاز برای خرید یک سیستم EBSD به عنوان کمکی برای این حوزه نسبتاً جدید از خصوصیات مواد گنجانده شده است. این بخش با فصل هایی از سه سازنده تجهیزات EBSD پایان می یابد که پیشرفت های اخیر در قابلیت ها را برجسته می کند. این کتاب با مروری بر کاربردهای اخیر تکنیک برای حل مسائل دشوار در علم مواد و همچنین سودمندی جفت کردن EBSD با رویکردهای دیگر مانند تحلیل عددی، مدل‌سازی پلاستیسیته و TEM به پایان می‌رسد. توجه به اندازه گیری و نگاشت کرنش با استفاده از EBSD و همچنین مشخصه ریزساختارهای تغییر شکل یافته، تبلور مجدد پیوسته، تجزیه و تحلیل وجوه، سرامیک و مواد ابررسانا معطوف شده است.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Crystallographic texture or preferred orientation has long been known to strongly influence material properties. Historically, the means of obtaining such texture data has been though the use of x-ray or neutron diffraction for bulk texture measurements, or transmission electron microscopy (TEM) or electron channeling for local crystallographic information. In recent years, we have seen the emergence of a new characterization technique for probing the microtexture of materials. This advance has come about primarily through the automated indexing of electron backscatter diffraction (EBSD) patterns. The first commercially available system was introduced in 1994, and since then the growth of sales worldwide has been dramatic. This has accompanied widening applicability in materials science problems such as microtexture, phase identification, grain boundary character distribution, deformation microstructures, etc. and is evidence that this technique can, in some cases, replace more time-consuming TEM or X-ray diffraction investigations. The purpose of this book is to provide the fundamental basis for EBSD. The formation and interpretation of EBSD patterns and the gnomonic projection are described as the framework for materials characterization using EBSD. Traditional representation of texture in orientation space is discussed in terms of stereographic projections, pole figures, inverse pole figures, and orientation distribution functions before introducing the Rodrigues-Frank representation of crystallographic texture. The fundamentals of automated EBSD and the accuracy of EBSD measurements are then discussed. Current hardware and software as well as future prospects for analyzing EBSD data sets are reviewed. A brief mention of the criterion required for the purchase of an EBSD system is included as an aid to this relatively new area of materials characterization. The section concludes with chapters from three manufacturers of EBSD equipment that highlight recent advances in capabilities. The book concludes with a review of recent applications of the technique to solve difficult problems in materials science as well as demonstrates the usefulness of coupling EBSD with other approaches such as numerical analysis, plasticity modeling, and TEM. Attention is paid to the measurement and mapping of strain using EBSD as well as the characterization of deformed microstructures, continuous recrystallization, analysis of facets, ceramics, and superconducting materials.





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی