Concise Encyclopedia of Materials Characterization

ویرایش: 1 
نویسندگان: R.W. Cahn and E.M. Lifshitz (Eds.)  
سری:  
ISBN (شابک) : 9780080406039, 0080406033 
ناشر: Pergamon 
سال نشر: 1993 
تعداد صفحات: 686 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 95 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 73,000

برای استفاده مؤثر از مواد، ترکیب، درجه کمال، خصوصیات فیزیکی و مکانیکی و ریزساختار آنها باید به دقت تعیین شود. این دایره المعارف مختصر طیف وسیعی از تکنیک‌های مشخص‌سازی لازم برای دستیابی به این هدف را پوشش می‌دهد.

مقالات ارائه شده نه تنها به تکنیک‌های مشخصه‌سازی مواد خاص مانند پلیمرها، فلزات، سرامیک‌ها و نیمه‌رساناها مربوط می‌شوند، بلکه تکنیک‌هایی را نیز می‌توان به کار برد. به مواد به طور کلی.

تکنیک‌هایی که روش‌های توده‌ای را پوشش می‌دهند و همچنین تعدادی روش خاص برای مطالعه توپوگرافی و ترکیب مناطق سطحی و نزدیک به سطح را پوشش می‌دهند. این تکنیک‌ها از روش‌های کاملاً تثبیت‌شده و سنتی تا جدیدترین، از جمله: میکروسکوپ نیروی اتمی. میکروسکوپ نوری کانفوکال؛ پراش پرتو گاما؛ تصویربرداری امواج حرارتی؛ پراش اشعه ایکس و تکنیک های حل شده در زمان.

این دایره المعارف مختصر منحصر به فرد شامل 116 مقاله توسط متخصصان برجسته در این زمینه از سراسر جهان است تا راهنمای ایده آلی برای دانشمندان مواد، شیمیدانان و مهندسان درگیر با هر جنبه ای از خصوصیات مواد این دایره المعارف مختصر با بیش از 540 تصویر، ارجاع متقابل گسترده، تقریباً 900 مرجع و فهرست دقیق، دارایی ارزشمندی برای هر مجموعه علم مواد خواهد بود.

To use materials effectively, their composition, degree of perfection, physical and mechanical characteristics, and microstructure must be accurately determined. This concise encyclopledia covers the wide range of characterization techniques necessary to achieve this.

Articles included are not only concerned with the characterization techniques of specific materials such as polymers, metals, ceramics and semiconductors but also techniques which can be applied to materials in general.

The techniques described cover bulk methods, and also a number of specific methods to study the topography and composition of surface and near-surface regions. These techniques range from the well-established and traditional to the very latest including: atomic force microscopy; confocal optical microscopy; gamma ray diffractometry; thermal wave imaging; x-ray diffraction and time-resolved techniques.

This unique concise encyclopedia comprises 116 articles by leading experts in the field from around the world to create the ideal guide for materials scientists, chemists and engineers involved with any aspect of materials characterization. With over 540 illustrations, extensive cross-referencing, approximately 900 references, and a detailed index, this concise encyclopedia will be a valuable asset to any materials science collection

Content: 
ADVANCES IN MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING, Page ii
NOTICE TO READERS, Page ii
Front Matter, Page iii
Copyright, Page iv
HONORARY EDITORIAL ADVISORY BOARD, Page vi
MICHAEL BERLINER BEVER, Page vii, Walter S Owen, Robert W Cahn, Peter T Shepherd
FOREWORD, Page ix, Walter S Owen
EXECUTIVE EDITOR'S PREFACE, Page xi, Robert W Cahn FRS
EDITORS' PREFACE, Page xiii, Robert W Cahn, Eric Lifshin
GUIDE TO USE OF THE ENCYCLOPEDIA, Page xv
ALPHABETICAL LIST OF ARTICLES, Pages xvii-xviii
AN INTRODUCTION TO INVESTIGATION AND CHARACTERIZATION OF MATERIALS, Pages xix-xxviii, Eric Lifshin
A, Pages 1-41
C, Pages 43-81
D, Pages 83-97
E, Pages 99-150
F, Pages 151-161
G, Pages 163-181
H, Pages 183-192
I, Pages 193-204
J, Pages 205-208
L, Pages 209-224
M, Pages 225-265
N, Pages 267-278
O, Pages 279-297
P, Pages 299-401
R, Pages 403-422
S, Pages 423-495
T, Pages 497-545
V, Pages 547-550
W, Pages 551-588
X, Pages 555-588
LIST OF CONTRIBUTORS, Pages 589-597
SUBJECT INDEX, Pages 599-641