دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: Harry Bleeker, Peter van den Eijnden, Frans de Jong (auth.) سری: ISBN (شابک) : 9781461363712, 9781461531326 ناشر: Springer US سال نشر: 1993 تعداد صفحات: 237 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 19 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب تست اسکن مرزی: یک رویکرد عملی: مهندسی به کمک کامپیوتر (CAD، CAE) و طراحی، مهندسی برق
در صورت تبدیل فایل کتاب Boundary-Scan Test: A Practical Approach به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تست اسکن مرزی: یک رویکرد عملی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
کوچک سازی روزافزون قطعات الکترونیکی دیجیتالی، آزمایش مرسوم بردهای مدار چاپی (PCB) را با استفاده از لامپ های تخت از میخ مختل می کند. اساساً این به دلیل مقیاس بسیار بالای ادغام آی سی ها است که از طریق آن بسته هایی با صدها پین در گام های بسیار کوچک تا کسری از میلی متر در دسترس هستند. در نتیجه فاصله ردیابی بین مسیرهای مسی روی یک برد مدار چاپی به همان مقدار کاهش می یابد. نه تنها ابعاد فیزیکی کوچک مورد نیاز میخهای آزمایشی، آزمایشهای معمولی را غیرممکن کرده است، بلکه پیچیدگی ارائه سیگنالهای آزمایشی برای صدها میخ آزمایشی نیز از محدودیتها خارج شده است. بنابراین یک روش جدید آزمون هیئت مدیره باید ابداع می شد. به دنبال تکامل در فناوری تست IC. Boundary-Scan testing hm; تبدیل شدن به رویکرد جدید برای آزمایش PCB. با انجام اقدامات احتیاطی در طراحی آی سی (طراحی برای آزمایش پذیری)، تست در سطح PCB را می توان تا حد زیادی ساده کرد. این شرط برای موفقیت در معرفی Boundary-Sc,m Test (BST) در سطح هیئت مدیره ضروری بوده است.
The ever-increasing miniaturization of digital electronic components is hampering the conventional testing of Printed Circuit Boards (PCBs) by means of bed-of-nails fixtures. Basically this is caused by the very high scale of integration of ICs, through which packages with hundreds of pins at very small pitches of down to a fraction of a millimetre, have become available. As a consequence the trace distances between the copper tracks on a printed circuit board cmne down to the same value. Not only the required small physical dimensions of the test nails have made conventional testing unfeasible, but also the complexity to provide test signals for the many hundreds of test nails has grown out of limits. Therefore a new board test methodology had to be invented. Following the evolution in the IC test technology. Boundary-Scan testing hm; become the new approach to PCB testing. By taking precautions in the design of the IC (design for testability), testing on PCB level can be simplified 10 a great extent. This condition has been essential for the success of the introduction of Boundary-Sc,m Test (BST) at board level.
Front Matter....Pages i-xvi
PCB Testing....Pages 1-17
The Boundary-Scan Test Standard....Pages 19-50
Hardware Test Innovations....Pages 51-84
BST Design Languages....Pages 85-122
PCB Test Strategy Backgrounds....Pages 123-172
Management Aspects....Pages 173-195
Back Matter....Pages 197-225