دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Advances in X-Ray Analysis: Volume 38
دانلود کتاب پیشرفت در تحلیل X-Ray: دوره 38
مشخصات کتاب
Advances in X-Ray Analysis: Volume 38
ویرایش: نویسندگان: Robert L. Snyder, Bin-Jiang Chen (auth.), Paul K. Predecki, D. Keith Bowen, John V. Gilfrich, Charles C. Goldsmith, Ting C. Huang, Ron Jenkins, I. Cev Noyan, Deane K. Smith (eds.) سری: ISBN (شابک) : 9780306450457, 9781461517979 ناشر: Springer US سال نشر: 1995 تعداد صفحات: 1995 [766] زبان: German فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 51 Mb
قیمت کتاب (تومان) : 63,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Advances in X-Ray Analysis: Volume 38 به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پیشرفت در تحلیل X-Ray: دوره 38 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب پیشرفت در تحلیل X-Ray: دوره 38
مدلسازی دقیق اندازه و گسترش کرنش در پالایش رایتولد: رویکرد «دوبل وویگت» (D. Balzar). In vivo فلورسانس اشعه ایکس سرب و سایر عناصر ردیابی سمی (D.R. Chettle). تجزیه و تحلیل پراش اشعه ایکس آئروسل های PM10 استخراج شده توسط اولتراسوند (B.L. Davis، H. Chen). بازده الکترون کل (TEY): یک رویکرد جدید برای تجزیه و تحلیل کمی اشعه ایکس (H. Ebel). ساخت و استفاده از نمونه های راه اندازی (F.R. Feret). کریستالوگرافی کاربردی در میکروسکوپ الکترونی روبشی با استفاده از آشکارساز CCD (R.P. Goehner, J.R. Michael). تجزیه و تحلیل ردیابی توسط TXRF (R.S. Hockett). یک تکنیک درجا XRD برای تحقیقات بازپخت (D.E. Hoylman، S.C. Axtell). اقتباس از کد EGS4 مونت کارلو برای طراحی منبع قطبی شده برای تجزیه و تحلیل فلورسانس اشعه ایکس پلاتین و سایر فلزات سنگین in vivo (D.G. Lewis). نمودار سه بعدی معادلات تصحیح ماتریس XRF (A.J. Klimasara). عوامل محیطی مؤثر در بار بدن سرب که توسط in vivo فلورسانس اشعه ایکس (S.J.S. Ryde) تعیین شده است. بررسی تنشهای پسماند در نمونه لوگ سرد کار شده با استفاده از پراش نوترون و اشعه ایکس (R. Lin). پراش اشعه ایکس پیکوثانیه: سیستم و کاربردها (P.M. Rentzepis). خصوصیات ریزبافت با نقشه برداری جهت (R.A. Schwarzer). 79 مقاله اضافی. فهرست مطالب.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Accurate Modeling of Size and Strain Broadening in the Rietveld Refinement: The 'DoubleVoigt' Approach (D. Balzar). In vivo Xray Fluorescence of Lead and Other Toxic Trace Elements (D.R. Chettle). Xray Diffraction Analysis of PM10 Aerosols Extracted by Ultrasound (B.L. Davis, H. Chen). Total Electron Yield (TEY): A New Approach for Quantitative Xray Analysis (H. Ebel). Manufacture and Use of Setting Up Samples (F.R. Feret). Applied Crystallography in the Scanning Electron Microscope Using a CCD Detector (R.P. Goehner, J.R. Michael). Trace Analysis by TXRF (R.S. Hockett). An in situ XRD Technique for Annealing Investigations (D.E. Hoylman, S.C. Axtell). Adaptation of the EGS4 Monte Carlo Code for the Design of a Polarized Source for Xray Fluorescence Analysis of Platinum and Other Heavy Metals in vivo (D.G. Lewis). 3D Graphing of XRF Matrix Correction Equations (A.J. Klimasara). Environmental Factors Contributing to the Body Burden of Lead as Determined by in vivo Xray Fluorescence (S.J.S. Ryde). Investigation of Residual Stresses in a Sleeve Coldworked Lug Specimen by Neutron and Xray Diffraction (R. Lin). Picosecond Xray Diffraction: System and Applications (P.M. Rentzepis). The Characterization of Microtexture by Orientation Mapping (R.A. Schwarzer). 79 additional articles. Index.
