Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

روش‌های آزمایش پیشرفته برای SRAM: راه‌حل‌های موثر برای تشخیص خطای دینامیکی در فناوری‌های مقیاس نانو

توسط:

آلبرتو بوسیو

لوئیجی دیلیلو </ P>

پاتریک ژیرارد

سرژ پراووسودوویچ

آرنود ویرازل

الکترونیک مدرن به فناوری های نانومقیاس بستگی دارد که چالش های جدیدی را از نظر آزمایش و تشخیص ارائه می کند. حافظه ها به ویژه مستعد نقص هستند زیرا از محدودیت های فناوری برای بدست آوردن بالاترین تراکم استفاده می کنند. این کتاب راهنمای ارزشمندی برای تست و تشخیص آخرین نسل SRAM، یکی از پرکاربردترین نوع حافظه ها است. روش‌های کلاسیک برای آزمایش حافظه برای مدیریت به اصطلاح «عیوب استاتیک» طراحی شده‌اند، اما این راه‌حل‌های آزمایشی برای خطاهایی که در جدیدترین فناوری‌های زیر میکرون بسیار عمیق (VDSM) ظهور می‌کنند، کافی نیستند. این خطاهای جدید که به عنوان \"عیوب پویا\" نامیده می شوند، توسط الگوریتم های کلاسیک پوشش داده نمی شوند و نیاز به تست و راه حل های تشخیص اختصاصی ارائه شده در این کتاب دارند.

• اولین کتابی که پوشش کامل و پیشرفته تست خطای دینامیکی حافظه های SRAM را ارائه می دهد؛
• ارائه می کند محتوا با استفاده از رویکرد \"پایین به بالا\"، از مطالعه علل الکتریکی خرابی‌ها تا تولید استراتژی‌های تست هوشمند.
• شامل مطالعات موردی که تمام اجزای حافظه را پوشش می‌دهد (سلول‌های هسته، رمزگشای آدرس، درایورهای نوشتن، تقویت‌کننده‌های حسی، و غیره)؛

<. /P>

• تحلیل جامعی از نقص‌های مقاومتی-باز در هر جزء حافظه و مدل‌سازی خطای دینامیکی حاصل را پیشنهاد می‌کند.

Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

by:

Alberto Bosio

Luigi Dilillo

Patrick Girard

Serge Pravossoudovitch

Arnaud Virazel

Modern electronics depends on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnosis. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnosis of the latest generation of SRAM, one of the most widely used type of memories. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults", but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new faults, referred to as "dynamic faults", are not covered by classical algorithms and require the dedicated test and diagnosis solutions presented in this book.

• First book to present complete, state-of-the-art coverage of dynamic fault testing for SRAM memories;
• Presents content using a "bottom-up" approach, from the study of the electrical causes of malfunctions up to the generation of smart test strategies;
• Includes case studies covering all memory components (core-cells, address decoders, write drivers, sense amplifiers, etc.);
• Proposes an exhaustive analysis of resistive-open defects in each memory component and the resulting dynamic fault modeling.