دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب X-ray metrology in semiconductor manufacturing
دانلود کتاب Metrology اشعه ایکس در تولید نیمه هادی
مشخصات کتاب
X-ray metrology in semiconductor manufacturing
ویرایش: 1 نویسندگان: D. Keith Bowen, Brian K. Tanner سری: ISBN (شابک) : 0849339286, 9781420005653 ناشر: CRC/Taylor & Francis سال نشر: 2006 تعداد صفحات: 273 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 10 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 42,000
در صورت تبدیل فایل کتاب X-ray metrology in semiconductor manufacturing به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب Metrology اشعه ایکس در تولید نیمه هادی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب Metrology اشعه ایکس در تولید نیمه هادی
نوشته شده توسط متخصصان معتبر جهانی، اندازه گیری اشعه ایکس در ساخت نیمه هادی ها، کاربردها، علم و فناوری این منطقه به سرعت در حال تحول را توصیف می کند. این کتاب بر اندازه‌شناسی عملی، با مثال‌های دنیای واقعی از صنایع نیمه‌رسانا و مغناطیسی تأکید دارد. نویسندگان در مورد تکنیک ها، تئوری و کاربردهای اندازه گیری اشعه ایکس در نیمه هادی ها و دیگر لایه های نازک پیشرفته بحث می کنند. این کتاب سؤالات اساسی اندازه‌شناسی دقت و تکرارپذیری، دقت مطلق، اندازه نقطه، و توان عملیاتی برای هر نوع اندازه‌گیری را پوشش می‌دهد. این متن حاوی اطلاعات مهمی برای مهندسان برق، مهندسین ساخت و مهندسین نیمه هادی است.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Written by established world experts, X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing describes the applications, science, and technology of this rapidly evolving area. This book emphasizes practical metrology, with real world examples from the semiconductor and magnetics industries. The authors discuss the techniques, theory, and applications of X-ray metrology in semiconductors and other advanced thin films. The book covers the essential metrological questions of precision and repeatability, absolute accuracy, spot size, and throughput for each type of measurement. This text contains important information for electrical engineers, fabrication engineers, and semiconductor engineers.
