ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب X-Ray Line Profile Analysis in Materials Science

دانلود کتاب تجزیه و تحلیل پروفایل خط اشعه ایکس در علم مواد

X-Ray Line Profile Analysis in Materials Science

مشخصات کتاب

X-Ray Line Profile Analysis in Materials Science

ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری: Research Essentials 
ISBN (شابک) : 1466658525, 9781466658523 
ناشر: IGI Global 
سال نشر: 2014 
تعداد صفحات: 360 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 19 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 31,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 19


در صورت تبدیل فایل کتاب X-Ray Line Profile Analysis in Materials Science به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل پروفایل خط اشعه ایکس در علم مواد نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب تجزیه و تحلیل پروفایل خط اشعه ایکس در علم مواد

آنالیز پروفیل خط اشعه ایکس یک روش موثر و غیر مخرب برای شناسایی ریزساختار در مواد کریستالی است. حمایت از تحقیقات در زمینه تجزیه و تحلیل پروفایل خط اشعه ایکس برای ارتقای پیشرفت های بیشتر در این زمینه ضروری است. هدف تجزیه و تحلیل پروفایل خط اشعه ایکس در علم موادترکیب دانش موجود در مورد تئوری، روش شناسی و کاربردهای آنالیز پروفایل خط اشعه ایکس در تنظیمات دنیای واقعی است. این نشریه هم پیشینه نظری و هم اجرای عملی تجزیه و تحلیل پروفایل خط اشعه ایکس را ارائه می‌کند و به عنوان منبع مرجع برای مهندسین در رشته‌های مختلف و همچنین محققان و دانشجویان سطح بالا عمل می‌کند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

X-ray line profile analysis is an effective and non-destructive method for the characterization of the microstructure in crystalline materials. Supporting research in the area of x-ray line profile analysis is necessary in promoting further developments in this field. X-Ray Line Profile Analysis in Materials Science aims to synthesize the existing knowledge of the theory, methodology, and applications of x-ray line profile analysis in real-world settings. This publication presents both the theoretical background and practical implementation of x-ray line profile analysis and serves as a reference source for engineers in various disciplines as well as scholars and upper-level students.





نظرات کاربران