X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures

این تک نگاری بررسی انتقادی از قابلیت های برجسته پراکندگی پرتو ایکس
برای توصیف ساختاری سیستم های مواد مزوسکوپی را نشان می دهد. رژیم مزوسکوپی شامل مقیاس های طولی از چند تا چند صد نانومتر است. در سیستم های لایه نیمه هادی که برای مثال، زبری رابط یا اجسام کم بعدی مانند نقاط کوانتومی و سیم های کوانتومی توجه زیادی را به خود جلب کرده اند، اهمیت ویژه ای دارد. یک مرور کلی از تئوری پیشرفته حاضر در مورد پراکندگی پراکنده پرتو ایکس در ساختارهای مزوسکوپی همراه با توصیف ارزشمندی از تکنیک‌های تجربی مختلف ارائه شده است. نمونه های به روز انتخاب شده مورد بحث قرار می گیرند. هدف کتاب حاضر ترکیب جنبه‌های رشد خود سازمان‌یافته ساختارهای مزوسکوپی با آزمایش‌های مربوط به پراکندگی پرتو ایکس است.

This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray
diffuse scattering for the structural characterization of mesoscopic material systems. The mesoscopic regime comprises length scales ranging from a few up to some hundreds of nanometers. It is of particular relevance at semiconductor layer systems where, for example, interface roughness or low-dimensional objects such as quantum dots and quantum wires have attracted much interest. An extensive overview of the present state-of-the-art theory of X-ray diffuse scattering at mesoscopic structures is given followed by a valuable description of various experimental techniques. Selected up-to-date examples are discussed. The aim of the present book is to combine aspects of self-organized growth of mesoscopic structures with corresponding X-ray diffuse scattering experiments.