دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب X-ray Diffraction Topography
دانلود کتاب توپوگرافی پراش اشعه ایکس
مشخصات کتاب
X-ray Diffraction Topography
ویرایش: 1st
نویسندگان: B. K. Tanner (Auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9780080196923
ناشر: Pergamon Press
سال نشر: 1976
تعداد صفحات: 181
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 5 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 31,000
در صورت تبدیل فایل کتاب X-ray Diffraction Topography به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب توپوگرافی پراش اشعه ایکس نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب توپوگرافی پراش اشعه ایکس
توپوگرافی پراش اشعه ایکس درمان ابتدایی توپوگرافی اشعه ایکس را ارائه می دهد که برای افراد غیر متخصص قابل درک است. در مورد توسعه اصول و کاربرد موضوع بحث می کند. توپوگرافی اشعه ایکس مطالعه کریستال هایی است که از پراش اشعه ایکس استفاده می کنند. برخی از موضوعات مطرح شده در این کتاب عبارتند از: نظریه اصلی پراش پرتو ایکس دینامیکی، روش برگ-بارت، روش لانگ، روش‌های کریستال دوبل، کنتراست در توپوگرافی اشعه ایکس، و تجزیه و تحلیل عیوب و اعوجاج کریستال. بلورهای رشد یافته از محلول پوشیده شده اند. Cr به طور طبیعی رخ می دهد.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
X-Ray Diffraction Topography presents an elementary treatment of X-ray topography which is comprehensible to the non-specialist. It discusses the development of the principles and application of the subject matter. X-ray topography is the study of crystals which use x-ray diffraction. Some of the topics covered in the book are the basic dynamical x-ray diffraction theory, the Berg-Barrett method, Lang's method, double crystal methods, the contrast on x-ray topography, and the analysis of crystal defects and distortions. The crystals grown from solution are covered. The naturally occurring cr.
فهرست مطالب
Content:
Other titles in the International Series in THE SCIENCE OF THE SOLID STATE, Page ii
Front Matter, Page iii
Copyright, Page iv
SERIES EDITOR'S PREFACE, Page v
PREFACE, Pages vii-viii
LIST OF SYMBOLS COMMONLY USED IN THE TEXT, Page xiii
ACKNOWLEDGMENTS, Page xiv
CHAPTER 1 - BASIC DYNAMICAL X-RAY DIFFRACTION THEORY, Pages 1-23
CHAPTER 2 - EXPERIMENTAL TECHNIQUES, Pages 24-62
CHAPTER 3 - CONTRAST ON X-RAY TOPOGRAPHS, Pages 63-99
CHAPTER 4 - ANALYSIS OF CRYSTAL DEFECTS AND DISTORTIONS, Pages 100-129
CHAPTER 5 - CRYSTALS GROWN FROM SOLUTION, Pages 130-144
CHAPTER 6 - NATURALLY OCCURRING CRYSTALS, Pages 145-154
CHAPTER 7 - MELT, SOLID STATE AND VAPOUR GROWTH, Pages 155-169
INDEX, Pages 171-174
