دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: فیزیک ویرایش: 1 نویسندگان: Oliver H. Seeck, Bridget Murphy سری: ISBN (شابک) : 9814303593, 9789814303590 ناشر: Pan Stanford سال نشر: 2014 تعداد صفحات: 438 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 30 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب پراش اشعه ایکس: تکنیک های تجربی مدرن: فیزیک، کارگاه، فیزیک تجربی و روش های تحقیق فیزیکی
در صورت تبدیل فایل کتاب X-Ray Diffraction: Modern Experimental Techniques به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پراش اشعه ایکس: تکنیک های تجربی مدرن نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
پراش و پراکندگی پرتو ایکس با وضوح بالا یک ابزار کلیدی برای تجزیه و تحلیل ساختار نه تنها در مواد حجیم بلکه در سطوح و رابط های مدفون از محدوده زیر نانومتری تا میکرومتر است. این کتاب مروری بر روشهای پراش و پراکندگی در حال حاضر در منابع سنکروترون مدرن ارائه میدهد و تحقیقات حجیم و واسط مواد جامد و مایع را با نمونههای تحقیقاتی بهروز نشان میدهد. این ویژگی های مهم منابع، راه اندازی آزمایشی، و پیشرفت های جدید آشکارساز را ارائه می دهد. این کتاب همچنین بهره برداری آینده از لیزرهای الکترون آزاد اشعه ایکس را برای کاربردهای پراش در نظر می گیرد.
High-resolution x-ray diffraction and scattering is a key tool for structure analysis not only in bulk materials but also at surfaces and buried interfaces from the sub-nanometer range to micrometers. This book offers an overview of diffraction and scattering methods currently available at modern synchrotron sources and illustrates bulk and interface investigations of solid and liquid matter with up-to-date research examples. It presents important characteristics of the sources, experimental set-up, and new detector developments. The book also considers future exploitation of x-ray free electron lasers for diffraction applications.