دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: Eric Lifshin
سری:
ISBN (شابک) : 3527296573, 9783527613755
ناشر: Wiley-VCH
سال نشر: 1999
تعداد صفحات: 281
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 20 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب X-ray Characterization of Materials به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب ویژگی های اشعه ایکس مواد نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
پیوند خواص مواد با ریزساختارها یک موضوع اساسی در علم مواد است که برای آن دانش دقیق از تکنیکهای توصیف مدرن ضروری است. از آنجایی که مواد مدرن مانند آلیاژهای با دمای بالا، ترموپلاستیکهای مهندسی و فیلمهای نیمههادی چندلایه دارای اجزای عنصری زیادی هستند که در بیش از یک فاز توزیع شدهاند، تعیین خصوصیات برای توسعه سیستماتیک چنین مواد جدیدی و درک نحوه رفتار آنها در کاربردهای عملی ضروری است. تکنیک های اشعه ایکس نقش عمده ای در ارائه اطلاعات در مورد ترکیب عنصری و ساختار بلوری و دانه ای انواع مواد دارند. چالش کارشناس خصوصیات مواد این است که بفهمد چگونه ابزارهای خاص و تکنیک های تحلیلی می توانند اطلاعات دقیقی را در مورد آنچه که هر ماده را منحصر به فرد می کند ارائه دهند. چالش دانشمند، شیمیدان یا مهندس مواد این است که بدانند چه اطلاعاتی برای توصیف کامل هر ماده و نحوه استفاده از این اطلاعات برای توضیح رفتار آن، توسعه خواص جدید و بهبود یافته، کاهش هزینه ها یا اطمینان از انطباق با الزامات قانونی مورد نیاز است. این کتابچه راهنمای جامع تمام پیش زمینه های لازم برای درک کاربردهای آنالیز اشعه ایکس در تعیین مشخصات مواد را با توجه ویژه به رویکرد مدرن به این روش ها ارائه می دهد.
Linking of materials properties with microstructures is a fundamental theme in materials science, for which a detailed knowledge of the modern characterization techniques is essential. Since modern materials such as high-temperature alloys, engineering thermoplastics and multilayer semiconductor films have many elemental constituents distributed in more than one phase, characterization is essential to the systematic development of such new materials and understanding how they behave in practical applications. X-ray techniques play a major role in providing information on the elemental composition and crystal and grain structures of all types of materials. The challenge to the materials characterization expert is to understand how specific instruments and analytical techniques can provide detailed information about what makes each material unique. The challenge to the materials scientist, chemist, or engineer is to know what information is needed to fully characterize each material and how to use this information to explain its behavior, develop new and improved properties, reduce costs, or ensure compliance with regulatory requirements. This comprehensive handbook presents all the necessary background to understand the applications of X-ray analysis to materials characterization with particular attention to the modern approach to these methods.