دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: Anant G Sabnis
سری: VLSI Electronics Microstructure Science 22
ISBN (شابک) : 0122341228, 9780122341229
ناشر: Academic Press
سال نشر: 1990
تعداد صفحات: 212
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 21 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب VLSI electronics microstructure science به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب علم ریزساختار الکترونیک VLSI نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
همانطور که مدارهای یکپارچه پیچیده تر می شوند، با هندسه های
کوچکتر و کوچکتر، باید مراقبت های بسیار بیشتری برای جلوگیری از
مشکلات قابلیت اطمینان انجام شود. این حجم عملی طیف گسترده ای از
مسائل قابلیت اطمینان در مدارهای مجتمع، از مفاهیم اولیه تا بسته
بندی را پوشش می دهد.
موضوعات عبارتند از:**تکنیکهای تحلیل شکست**اثرات تشعشع**تضمین
قابلیت اطمینان و صلاحیت
As integrated cicuits become more complex, with smaller and
smaller geometries, much more care must be taken to avoid
reliability problems. This practical volume covers a broad
spectrum of reliability issues in integrated circuits, from
basic concepts to packaging.
Topics include:**failure analysis techniques**radiation
effects**reliability assurance and qualification
Content: Vol. 22. VLSI reliability / Anant G. Sabnis. c1990.