ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب VLSI electronics microstructure science

دانلود کتاب علم ریزساختار الکترونیک VLSI

VLSI electronics microstructure science

مشخصات کتاب

VLSI electronics microstructure science

ویرایش:  
نویسندگان:   
سری: VLSI Electronics Microstructure Science  22 
ISBN (شابک) : 0122341228, 9780122341229 
ناشر: Academic Press 
سال نشر: 1990 
تعداد صفحات: 212 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 21 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 88,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 16


در صورت تبدیل فایل کتاب VLSI electronics microstructure science به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب علم ریزساختار الکترونیک VLSI نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب علم ریزساختار الکترونیک VLSI

همانطور که مدارهای یکپارچه پیچیده تر می شوند، با هندسه های کوچکتر و کوچکتر، باید مراقبت های بسیار بیشتری برای جلوگیری از مشکلات قابلیت اطمینان انجام شود. این حجم عملی طیف گسترده ای از مسائل قابلیت اطمینان در مدارهای مجتمع، از مفاهیم اولیه تا بسته بندی را پوشش می دهد.

موضوعات عبارتند از:**تکنیکهای تحلیل شکست**اثرات تشعشع**تضمین قابلیت اطمینان و صلاحیت


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

As integrated cicuits become more complex, with smaller and smaller geometries, much more care must be taken to avoid reliability problems. This practical volume covers a broad spectrum of reliability issues in integrated circuits, from basic concepts to packaging.

Topics include:**failure analysis techniques**radiation effects**reliability assurance and qualification



فهرست مطالب


Content: Vol. 22. VLSI reliability / Anant G. Sabnis. c1990.




نظرات کاربران