دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: G. B. Williams and D.W. Hopkins (Auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9780080299884, 0080299881
ناشر: Pergamon
سال نشر: 1984
تعداد صفحات: 223
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 8 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Troubleshooting on Microprocessor Based Systems به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب عیب یابی در سیستم های مبتنی بر ریزپردازنده نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
ساختار یک سیستم محاسباتی هنگامی که به درستی کار نمی کند و نیاز به آزمایش دارد، مشکلات منحصر به فردی را ارائه می دهد. این کتاب مختصر و در عین حال جامع، روشهای آزمون اصلی در استفاده کنونی و توسعه آنها را از اصول اولیه توصیف میکند. توالی آزمایشهایی را که بر روی یکدیگر ساخته شدهاند، وسیلهای مناسب برای آزمایش سیستمهای دیجیتال و انواع مختلف تجهیزات آزمایشی که باید برای آزمایشهای خاص استفاده شوند را بررسی میکند. این متن یک مقدمه عالی برای کسانی که وارد این دنیای پیچیده تر می شوند، مبنایی محکم برای قضاوت در مورد توسعه آینده در اختیار خواننده قرار می دهد.
The structure of a computing system presents unique problems when it fails to operate correctly and requires testing. This concise, yet comprehensive book describes the major test methods in current use, and their development from basic principles. Examines the sequence of tests which, built on each other, provide a suitable vehicle for testing digital systems, and the various types of testing equipment that should be applied for specific tests. An excellent introduction for those entering this increasingly complex world, the text will provide the reader with a firm basis on which to judge future development
Content:
THE PERGAMON MATERIALS ENGINEERING PRACTICE SERIES, Page ii
Front Matter, Page iii
Copyright, Page iv
Dedication, Page v
Materials Engineering Practice, Page vii
Preface, Pages ix-xii
CHART OF SYMBOLS, Page xiii
Chapter 1 - Introduction to Microprocessor Based Systems, Pages 1-23
Chapter 2 - System Testing Problems, Pages 24-49
Chapter 3 - System Testing Philosophy, Pages 50-64
Chapter 4 - The Use of Conventional Test Equipment, Pages 65-72
Chapter 5 - Hand-held Tools, Pages 73-97
Chapter 6 - Logic Analysers, Pages 98-130
Chapter 7 - Signature Analysis, Pages 131-162
Chapter 8 - Emulation, Pages 163-178
Chapter 9 - Self-test and Diagnostic Software, Pages 179-188
Chapter 10 - Testing Peripheral Related Functions, Pages 189-209
References, Page 210
Index, Pages 211-213