دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: الکترونیک: رادیو ویرایش: 1 نویسندگان: Victor V. Mikla, Victor I Mikla سری: ISBN (شابک) : 012384715X, 9780123847164 ناشر: Elsevier سال نشر: 2010 تعداد صفحات: 129 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 1 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Trap Level Spectroscopy in Amorphous Semiconductors به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب طیف سنجی سطح دام در نیمه هادی های آمورف نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
اگرچه نیمه هادی های آمورف بیش از چهار دهه مورد مطالعه قرار گرفته اند، بسیاری از خواص آنها به طور کامل شناخته نشده است. این کتاب نه تنها تکنیک های طیف سنجی مورد استفاده را مورد بحث قرار می دهد، بلکه مزایا و معایب آنها را نیز شرح می دهد. اطلاعاتی درباره رایجترین تکنیکهای طیفسنجی ارائه میدهد. مزایا و معایب هر تکنیک را مورد بحث قرار میدهد.
Although amorphous semiconductors have been studied for over four decades, many of their properties are not fully understood. This book discusses not only the most used spectroscopic techniques but also describes their advantages and disadvantages. Provides information on the most common spectroscopic techniquesDiscusses the advantages and disadvantages of each technique