مشخصات کتاب

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

ویرایش:  
نویسندگان: Professor Brent Fultz. Professor James M. Howe (auth.)  
سری:  
ISBN (شابک) : 9783662049037, 9783662049013 
ناشر: Springer Berlin Heidelberg 
سال نشر: 2002 
تعداد صفحات: 763 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 18 مگابایت 

کلمات کلیدی مربوط به کتاب میکروسکوپ الکترونی انتقالی و پراش سنجی مواد: سطوح و رابط ها، لایه های نازک، فیزیک حالت جامد، طیف سنجی و میکروسکوپ، کریستالوگرافی، خصوصیات و ارزیابی مواد

در صورت تبدیل فایل کتاب Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ الکترونی انتقالی و پراش سنجی مواد نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ الکترونی انتقالی و پراش سنجی مواد

این کتاب درسی مفاهیم میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) و پراش پرتو ایکس (XRD) را که برای توصیف مواد مهم هستند، توسعه می‌دهد. بر موضوعات مشترک در هر دو تکنیک، مانند پراکندگی از اتم ها، تداخل امواج، و تشکیل و تجزیه و تحلیل الگوهای پراش تأکید می کند. منحصر به فرد بودن هر تکنیک، به ویژه تصویربرداری و طیف سنجی در TEM را توضیح می دهد. حتی الامکان از استناد ساده قوانین خودداری شده و مسائل عملی و نظری به تفصیل توضیح داده شده است. این کتاب را می توان به عنوان متن مقدماتی و پیشرفته در مقطع کارشناسی ارشد استفاده کرد زیرا بخش ها / فصل ها بر اساس دشواری مرتب شده اند و برای استفاده در دوره های سه ماهه و ترم در TEM و XRD گروه بندی می شوند. مسائل متعددی در پایان هر فصل برای تقویت مفاهیم کلیدی ارائه شده است و راه‌حل‌هایی در دسترس مربیان است. ضمیمه ها روش هایی را برای تمرینات آزمایشگاهی مقدماتی و جدول های به روز داده های فیزیکی مفید برای TEM و XRD ارائه می دهند.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This textbook develops the concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. It emphasizes themes common to both techniques, such as scattering from atoms, wave interference, and the formation and analysis of diffraction patterns. It explains the uniqueness of each technique, especially imaging and spectroscopy in the TEM. Simple citations of rules are avoided as much as possible, and both practical and theoretical issues are explained in detail. The book can be used as both an introductory and advanced-level graduate text since sections/chapters are sorted according to difficulty and grouped for use in quarter and semester courses on TEM and XRD. Numerous problems are provided at the end of each chapter to reinforce key concepts, and solutions are available to instructors. Appendices provide procedures for introductory laboratory exercises, and up-to-date tabulations of physical data useful for TEM and XRD.

فهرست مطالب

Front Matter....Pages I-XXI
Diffraction and the X-Ray Powder Diffractometer....Pages 1-61
The TEM and its Optics....Pages 63-121
Scattering....Pages 123-166
Inelastic Electron Scattering and Spectroscopy....Pages 167-224
Diffraction from Crystals....Pages 225-274
Electron Diffraction and Crystallography....Pages 275-338
Diffraction Contrast in TEM Images....Pages 339-422
Diffraction Lineshapes....Pages 423-464
Patterson Functions and Diffuse Scattering....Pages 465-520
High-Resolution TEM Imaging....Pages 521-596
Dynamical Theory....Pages 597-661
Back Matter....Pages 663-748

نظرات کاربران

کتاب های تصادفی

دانلود کتاب Understanding Schools and Schooling (Key Issues in Teaching and Learning)

دانلود کتاب Geochemical Modelling of Igneous Processes – Principles And Recipes in R Language: Bringing the Power of R to a Geochemical Community

دانلود کتاب The Third Option for the South China Sea: The Political Economy of Regional Conflict and Cooperation

دانلود کتاب Ancient and modern India

دانلود کتاب الثقافة والمقاومة