مشخصات کتاب

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

ویرایش:  
نویسندگان: Prof. Dr. Brent Fultz,  Prof. Dr. James M. Howe (auth.)  
سری:  
ISBN (شابک) : 9783540738855, 9783540738862 
ناشر: Springer Berlin Heidelberg 
سال نشر: 2008 
تعداد صفحات: 770 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 18 مگابایت 

کلمات کلیدی مربوط به کتاب میکروسکوپ الکترونی عبوری و پراش سنجی مواد: خصوصیات و ارزیابی مواد، سطوح و واسط ها، لایه های نازک، کریستالوگرافی، فیزیک حالت جامد و طیف سنجی، فیزیک و فیزیک کاربردی در مهندسی

در صورت تبدیل فایل کتاب Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ الکترونی عبوری و پراش سنجی مواد نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ الکترونی عبوری و پراش سنجی مواد



این کتاب مفاهیم میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) و پراش سنجی اشعه ایکس (XRD) را توضیح می دهد که برای توصیف مواد مهم هستند. نسخه سوم برای پوشش پیشرفت های فنی مهم، از جمله بهبود قابل توجه اخیر در وضوح TEM، به روز شده است. این نسخه به طور قابل ملاحظه‌ای طولانی‌تر از نسخه دوم نیست، اما همه فصل‌ها برای وضوح به‌روزرسانی و بازنگری شده‌اند. فصل جدیدی در مورد روش های STEM با وضوح بالا اضافه شده است. این کتاب اصول نحوه تعامل امواج و توابع موج با اتم ها در جامدات و شباهت ها و تفاوت های استفاده از پرتوهای ایکس، الکترون ها یا نوترون ها را برای اندازه گیری های پراش توضیح می دهد. اثرات پراش نظم کریستالی، عیوب و بی نظمی در مواد به تفصیل توضیح داده شده است. هر دو مسائل عملی و نظری پوشش داده شده است. این کتاب را می توان در دوره های سطح مقدماتی یا پیشرفته استفاده کرد، زیرا بخش ها بر اساس دشواری مشخص می شوند. هر فصل شامل مجموعه ای از مسائل برای نشان دادن اصول است و پیوست گسترده شامل تمرین های آزمایشگاهی است.

`` من می توانم به گرمی این کتاب را که قیمت مناسبی دارد، به عنوان یک مکمل عالی برای هر دانشمند مواد یا فیزیکدانی که می خواهد دید کلی خوبی از تکنیک های پراش و تصویربرداری فعلی داشته باشد، توصیه کنم. ''

جان هاچیسون در مجله میکروسکوپی

`` من می توانم آن را به عنوان یک منبع ارزشمند برای هر کسی که در یک دوره سطح بالاتر در مورد مواد شرکت دارد توصیه کنم. شخصیت پردازی.''

ری اگرتون در میکرون

``یک کتاب فوق العاده. ترکیبی نادر از عمق، توصیه های عملی و مشکلات برای هر جنبه از XRD، TEM، و EELS مدرن. اکنون که TEM/STEM به ابزاری حیاتی برای علم نانو تبدیل شده است، هیچ آزمایشگاه مواد نباید بدون آن باشد.»

جان سی اچ اسپنس، دانشگاه ایالتی آریزونا >` من در اینجا یک دوره سخنرانی در مورد میکروسکوپ الکترونی پیشرفته ارائه می کنم و مطمئناً کتاب شما را برای دوره خود توصیه می کنم. این کتاب فوق‌العاده‌ای است."

کالین هامفریس، دانشگاه کمبریج

`" این متن کامل‌ترین درمان آموزشی نظریه پراکندگی موجود در یک منبع واحد برای آموزش فارغ التحصیلان در توصیف مواد معاصر. ادغام فوتون‌ها و الکترون‌ها، خطوط پرتو و میکروسکوپ‌های الکترونی، تئوری و عمل، به دانش‌آموزان با زمینه‌های علمی و فنی متنوع کمک می‌کند تا ماهیت پراش، طیف‌سنجی و تصویربرداری را درک کنند. بسیار توصیه می شود.''

رونالد گرونسکی، دانشگاه کالیفرنیا، برکلی

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The third edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM. This edition is not substantially longer than the second, but all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. The book explains the fundamentals of how waves and wavefunctions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.

``I can warmly recommend this book, which is attractively priced, as an excellent addition for any materials scientist or physicist who wants a good overview of current diffraction and imaging techniques.''

John Hutchison in Journal of Microscopy

``I can recommend it as a valuable resource for anyone involved in a higher-level course on materials characterization.''

Ray Egerton in Micron

``A wonderful book. A rare combination of depth, practical advice, and problems for every aspect of modern XRD, TEM, and EELS. No materials lab should be without it now that TEM/STEM has become such a crucial tool for nanoscience.''

John C. H. Spence, Arizona State University

``I give a lecture course here on Advanced Electron Microscopy and will certainly be recommending your book for my course. It is a superb book.’’

Colin Humphreys, Cambridge University

``This text offers the most complete pedagogical treatment of scattering theory available in a single source for graduate instruction in contemporary materials characterization. Its integration of photons and electrons, beam lines and electron microscopes, theory and practice, assists students with diverse scientific and technical backgrounds to understand the essence of diffraction, spectrometry and imaging. Highly recommended.’’

Ronald Gronsky, University of California, Berkeley

فهرست مطالب

Front Matter....Pages I-XIX
Diffraction and the X-Ray Powder Diffractometer....Pages 1-59
The TEM and its Optics....Pages 61-118
Scattering....Pages 119-162
Inelastic Electron Scattering and Spectroscopy....Pages 163-221
Diffraction from Crystals....Pages 223-272
Electron Diffraction and Crystallography....Pages 273-336
Diffraction Contrast in TEM Images....Pages 337-421
Diffraction Lineshapes....Pages 423-456
Patterson Functions and Diffuse Scattering....Pages 457-516
High-Resolution TEM Imaging....Pages 517-582
High-Resolution STEM Imaging....Pages 583-609
Dynamical Theory....Pages 611-675
Back Matter....Pages 677-758

نظرات کاربران

کتاب های تصادفی

دانلود کتاب Chamorro reference grammar

دانلود کتاب J.R. McCulloch: A Study in Classical Economics

دانلود کتاب The Mathematics of Various Entertaining Subjects: Research in Games, Graphs, Counting, and Complexity

دانلود کتاب Reframing Health Behavior Change With Behavioral Economics

دانلود کتاب Hal Leonard. Volume 049. Miles Davis Standards