Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

این کتاب مفاهیم میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) و پراش پرتو ایکس (XRD) را توضیح می‌دهد که برای توصیف مواد مهم هستند. ویرایش چهارم تکنیک های جدید مهم TEM مانند توموگرافی الکترونی، پراش نانو پرتو و آنالیز فاز هندسی را اضافه می کند. فصل جدیدی در مورد پراکندگی نوترون، سه پراش پرتو ایکس، الکترون و نوترون را تکمیل می کند. تمام فصل ها برای وضوح به روز و بازنگری شدند. این کتاب اصول نحوه تعامل امواج و توابع موج با اتم‌ها در جامدات و شباهت‌ها و تفاوت‌های استفاده از پرتوهای ایکس، الکترون‌ها یا نوترون‌ها را برای اندازه‌گیری‌های پراش توضیح می‌دهد. اثرات پراش نظم کریستالی، عیوب و بی نظمی در مواد به تفصیل توضیح داده شده است. هر دو مسائل عملی و نظری پوشش داده شده است. این کتاب را می توان در دوره های سطح مقدماتی یا پیشرفته استفاده کرد، زیرا بخش ها بر اساس دشواری مشخص می شوند. هر فصل شامل مجموعه‌ای از مسائل برای نشان دادن اصول است و پیوست گسترده شامل تمرین‌های آزمایشگاهی است.

This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds important new techniques of TEM such as electron tomography, nanobeam diffraction, and geometric phase analysis. A new chapter on neutron scattering completes the trio of x-ray, electron and neutron diffraction. All chapters were updated and revised for clarity. The book explains the fundamentals of how waves and wavefunctions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.