ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Trace Analysis of Semiconductor Materials

دانلود کتاب تجزیه و تحلیل ردیابی مواد نیمه هادی

Trace Analysis of Semiconductor Materials

مشخصات کتاب

Trace Analysis of Semiconductor Materials

ویرایش:  
نویسندگان: ,   
سری:  
ISBN (شابک) : 9780080100319 
ناشر: Elsevier 
سال نشر: 1964 
تعداد صفحات: 289 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 6 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 41,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 15


در صورت تبدیل فایل کتاب Trace Analysis of Semiconductor Materials به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل ردیابی مواد نیمه هادی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب تجزیه و تحلیل ردیابی مواد نیمه هادی

تجزیه و تحلیل ردیابی مواد نیمه هادی یک کتاب راهنما است که به روش های تجزیه و تحلیل فوق ردیابی مربوط می شود. این کتاب شش تکنیک متمایز تجزیه و تحلیل ردیابی را مورد بحث قرار می دهد. این تکنیک ها رایج ترین هستند و در مقایسه با روش های دیگر می توانند برای مشکلات مختلف اعمال شوند. هر یک از چهار فصل اساساً شامل مقدمه ای بر اصول و بیانات کلی می شود. سپس مبانی نظری تکنیک درگیر به اختصار مورد بحث قرار می گیرد. کاربردهای عملی تکنیک ها و ابزار دقیق مختلف توضیح داده شده است. سپس، برنامه های کاربردی برای ردیابی تجزیه و تحلیل مربوط به ...


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Trace Analysis of Semiconductor Materials is a guidebook concerned with procedures of ultra-trace analysis. This book discusses six distinct techniques of trace analysis. These techniques are the most common and can be applied to various problems compared to other methods. Each of the four chapters basically includes an introduction to the principles and general statements. The theoretical basis for the technique involved is then briefly discussed. Practical applications of the techniques and the different instrumentations are explained. Then, the applications to trace analysis as pertaining ...



فهرست مطالب

Content: 
INTERNATIONAL SERIES OF MONOGRAPHS ON ANALYTICAL CHEMISTRY, Page ii
Front Matter, Page iii
Copyright, Page iv
PREFACE, Pages vii-ix
INTRODUCTION, Pages 1-5, BERNARD RUBIN
CHAPTER I - NEUTRON ACTIVATION ANALYSIS, Pages 6-140, J. PAUL CALI
CHAPTER II - EMISSION SPECTROSCOPY, Pages 141-168, P.E. LIGHTY, E.W. CURRIER
CHAPTER III - MASS SPECTROMETRIC METHODS, Pages 169-190,190a,191-205, RICHARD E. HONIG
CHAPTER IV - ABSORPTION, FLUORESCENCE AND POLAROGRAPHIC METHODS, Pages 206-272, C.A. PARKER, W.T. REES
SUBJECT INDEX, Pages 273-282




نظرات کاربران