دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 0
نویسندگان: Arthur J. Ahearn (Eds.)
سری:
ISBN (شابک) : 9780120446506
ناشر: Academic Press
سال نشر: 1972
تعداد صفحات: 459
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 8 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Trace Analysis by Mass Spectrometry به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل ردیابی توسط طیف سنجی جرمی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
تجزیه و تحلیل ردیابی توسط طیف سنجی جرمی با تجزیه و تحلیل ردیابی جامدات و مایعات توسط تکنیک های طیف سنجی جرمی سروکار دارد. موضوعات شامل فیزیک و تکنیک های منابع یونی تخلیه الکتریکی، انتقال یون ها از طریق طیف سنج های جرمی متمرکز دوگانه، و تشخیص و اندازه گیری یون ها توسط صفحات حساس به یون است. منابع یونی مورد استفاده عمدتاً از نوع منابع تخلیه الکتریکی هستند. این کتاب از 14 فصل تشکیل شده است. چندین فصل اول بر روی فیزیک اساسی منابع یونی تخلیه الکتریکی، طیف سنجی جرمی متمرکز دوگانه و اندازه گیری آرایه های جرم تمرکز دارد.
Trace Analysis by Mass Spectrometry deals with trace analysis of solids and liquids by mass spectrometric techniques. Topics include the physics and techniques of electrical discharge ion sources, transmission of ions through double focusing mass spectrometers, and detection and measurement of ions by ion-sensitive plates. The ion sources used are principally electrical discharge type sources. This book is comprised of 14 chapters. The first several chapters focus on the basic physics of electrical discharge ion sources, double focusing mass spectrometry, and the measurement of arrays of mass ...
Content:
Contributors, Page ii
Front Matter, Page iii
Copyright, Page iv
List of Contributors, Pages xi-xii
Preface, Page xiii
1 - Introductory Review, Pages 1-9, ARTHUR J. AHEARN
2 - Physics and Techniques of Electrical Discharge Ion Sources, Pages 11-56, JOCHEN FRANZEN
3 - The Transmission of Ions through Double Focusing Mass Spectrometers, Pages 57-99, RICHARD F. HERZOG
4 - Detection and Measurement of Ions by Ion-Sensitive Plates, Pages 101-134, RICHARD E. HONIG
5 - Electrical Measurements of Mass Resolved Ion Beams, Pages 135-177, R.J. CONZEMIUS, H.J. SVEC
6 - Interpretation of Mass Spectrograph Plates, Pages 179-211, P.R. KENNICOTT
7 - Computer Techniques for Solids Analysis, Pages 213-238, J. ROGERS WOOLSTON
8 - Relating the Mass Spectrum to the Solid Sample Composition, Pages 239-295, HARRY FARRAR IV
9 - Insulators, Powders, and Microsamples, Pages 297-322, G.H. MORRISON, J.R. ROTH
10 - The Analysis of Low-Melting and Reactive Samples, Pages 323-345, W.M. HICKAM, E. BERKEY
11 - The Analysis of Radioactive Samples by Spark-Source Mass Spectrometry, Pages 347-367, JOEL A. CARTER, JOHN R. SITES
12 - The Analysis of Gases in Solids, Pages 369-400, JOHN ROBOZ
13 - Surface and Thin Films Analysis, Pages 401-422, R.K. SKOGERBOE
14 - Laser Ion Source Analysis of Solids, Pages 423-444, BRUCE E. KNOX
Author Index, Pages 445-454
Subject Index, Pages 455-460