دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Pushkar Jain. Eugene J. Rymaszewski (auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9781402077050, 9781441991447
ناشر: Springer US
سال نشر: 2004
تعداد صفحات: 164
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 6 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب خازن های فیلم نازک برای الکترونیک بسته بندی شده: ساخت، ماشین آلات، ابزار، شیمی نظری و محاسباتی، مهندسی برق، نوری و مواد الکترونیکی
در صورت تبدیل فایل کتاب Thin-Film Capacitors for Packaged Electronics به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب خازن های فیلم نازک برای الکترونیک بسته بندی شده نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
خازنهای لایه نازک برای وسایل الکترونیکی بستهبندی
شده با خازنهایی از نوع مورد نظر سروکار دارد، همچنان
مورد نیاز است و میتواند همگام با خواستههای ناشی از سطوح
بیشتر یکپارچهسازی باشد. این گستره وسیعی از موضوعات را شامل
میشود، از خواص مواد گرفته تا محدودیتهایی از بهترین چیزی که
میتوان در خواص خازن به دست آورد تا مدلسازی فرآیند تا
نمونههای کاربردی. برخی از موضوعات تحت پوشش به شرح زیر
است:
- بینش جدید در مورد روابط اساسی بین ثابت دی الکتریک و میدان
شکست مواد و چگالی خازنی و ولتاژ شکست ساختارهای خازن،
- تکنیک های مشخصه الکتریکی برای طیف گسترده ای از فرکانسها (1
کیلوهرتز تا 20 گیگاهرتز)،
- مدلسازی فرآیند برای تعیین نقاط عملیاتی پایدار،
- جلوگیری از انتشار فلز (Cu) به دیالکتریک،
- اندازهگیری و مدلسازی ریز زبری دی الکتریک.
Thin-Film Capacitors for Packaged
Electronics deals with the capacitors of a wanted
kind, still needed and capable of keeping pace with the
demands posed by ever greater levels of integration. It spans
a wide range of topics, from materials properties to limits
of what's the best one can achieve in capacitor properties to
process modeling to application examples. Some of the topics
covered are the following:
-Novel insights into fundamental relationships between
dielectric constant and the breakdown field of materials and
related capacitance density and breakdown voltage of
capacitor structures,
-Electrical characterization techniques for a wide range of
frequencies (1 kHz to 20 GHz),
-Process modeling to determine stable operating points,
-Prevention of metal (Cu) diffusion into the
dielectric,
-Measurements and modeling of the dielectric micro-roughness.
Front Matter....Pages i-xv
Introduction....Pages 1-25
Design Fundamentals....Pages 27-41
Performance Detractors....Pages 43-89
Electrical Characterization....Pages 91-119
Integration Issues and Challenges....Pages 121-143
Applications....Pages 145-153
Back Matter....Pages 155-158