Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis: Theory and Applications

این کتاب بررسی مختصری از مفاهیم نظری مدرن تجزیه و تحلیل مواد اشعه ایکس را ارائه می دهد. ویژگی های اصلی کتاب عبارتند از: مبانی پراکندگی پرتو ایکس، تعامل بین پرتو ایکس و ماده و مفاهیم نظری جدید پراکندگی پرتو ایکس. تکنیک‌های مختلف اشعه ایکس به تفصیل در نظر گرفته می‌شوند: پراش پرتو ایکس با وضوح بالا، بازتاب اشعه ایکس، پراکندگی پرتو ایکس با زاویه کوچک و تجزیه و تحلیل تنش پسماند اشعه ایکس. تمام روش های نظری ارائه شده از رویکرد فیزیکی یکپارچه استفاده می کنند. این باعث می شود کتاب به ویژه برای یادگیری و انجام تجزیه و تحلیل داده ها با تکنیک های مختلف خوانندگان مفید باشد. این تئوری برای مطالعات مواد فله ای از همه نوع، از جمله تک بلورها و پلی کریستال ها و همچنین برای مطالعات سطحی تحت شرایط چرا قابل استفاده است. این کتاب برای محققان و دانشجویان فارغ التحصیل به طور یکسان جذاب است.

This book provides a concise survey of modern theoretical concepts of X-ray materials analysis. The principle features of the book are: basics of X-ray scattering, interaction between X-rays and matter and new theoretical concepts of X-ray scattering. The various X-ray techniques are considered in detail: high-resolution X-ray diffraction, X-ray reflectivity, grazing-incidence small-angle X-ray scattering and X-ray residual stress analysis. All the theoretical methods presented use the unified physical approach. This makes the book especially useful for readers learning and performing data analysis with different techniques. The theory is applicable to studies of bulk materials of all kinds, including single crystals and polycrystals as well as to surface studies under grazing incidence. The book appeals to researchers and graduate students alike.