دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: Pinaki Mazumder. Kanad Chakraborty (auth.)
سری: Frontiers in Electronic Testing 6
ISBN (شابک) : 9781461286325, 9781461314516
ناشر: Springer US
سال نشر: 1996
تعداد صفحات: 413
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 10 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Testing and Testable Design of High-Density Random-Access Memories به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب آزمایش و طراحی آزمایشی حافظه های دسترسی تصادفی با تراکم بالا نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
لویی وی. گرستنر جونیور از IBM گفت: "به نفع رهبران مشاغل نیست که مدارس دولتی را به مدارس حرفه ای تبدیل کنند. ما می توانیم به [دانش آموزان] یاد دهیم که چگونه افراد بازاریابی کنند. می توانیم به آنها یاد دهیم که چگونه ترازنامه را مدیریت کنند." در نشست اخیر سران آموزش در نیویورک. وی ادامه داد: آنچه ما را می کشد این است که باید خواندن و محاسبه و ارتباط و فکر کردن را به آنها بیاموزیم. (TIME، 8 آوریل 1996، صفحه 40). جمله آخر بسیار مهم است زیرا الزاماتی را برای آموزش تعیین می کند و از این رو مشخصات یک کتاب درسی را ارائه می دهد. کتاب درسی باید حاوی تمام اطلاعات علمی لازمی باشد که خواننده برای تمرین هنر در دنیای تکنولوژی به آن نیاز دارد. علاوه بر جزئیات علمی، مثال های گویا ضروری است. کتاب باید علم را بدون محدود کردن خلاقیت آموزش دهد و دانش آموز را برای حل مسائلی که قبلاً با آن مواجه نشده بود آماده کند. در تعقیب هدف خود برای پیشبرد مرزهای فناوری آزمایش، باید برنامه های کاربردی، آموزش و پژوهش را پوشش دهیم. این اولین کتاب درسی از مجموعه «مرزها» است. حافظه های نیمه هادی مرز VLSI را به بیش از یک راه نشان می دهند. اول اینکه، حافظهها همیشه از قوانین طراحی فیزیکی تهاجمیتر و چگالی بالاتر نسبت به سایر تراشههای VLSI استفاده میکنند، بنابراین فناوری نیمهرساناها را پیشرفت میدهند. دوم، در دسترس بودن تراشههای حافظه کمهزینه، کاربردهای نرمافزاری متعددی را با افزایش تقاضا برای انواع تراشهها ممکن میسازد.
"It is not in the interest of business leaders to turn public schools into vocational schools. We can teach [students] how to be marketing people. We can teach them how to manage balance sheets," stated Louis V. Gerstner Jr. of IBM at the recent Education Summit meeting in New York. He continued, "What is killing us is having to teach them to read and to compute and to communicate and to think." (TIME, April 8, 1996, page 40). The last sentence is most significant because it sets requirements for educa tion and hence gives the specification for a textbook. The textbook should contain all the necessary scientific information that the reader will need to practice the art in the technological world. In addition to the scientific detail, illustrative examples are necessary. The book should teach science without restricting creativity, and it should prepare the student for solving problems never encountered before. In pursuing our goal of advancing the frontiers of test technology, we must cover applications, education, and research. This is the first textbook in the "Frontiers" series. Semiconductor memories represent the frontier of VLSI in more ways than one. First, memories have always used more aggressive physical design rules and higher densities than other VLSI chips, thus advancing the semiconductor technology. Second, the availability of low-cost memory chips makes numerous software applications possible by fueling the demand for all types of chips.
Content:
Front Matter....Pages i-xxxviii
Introduction....Pages 1-44
Electrical Testing of Faults....Pages 45-73
Functional Fault Modeling and Testing....Pages 75-156
Technology and Layout-Related Testing....Pages 157-219
Built-in Self-Testing and Design for Testability....Pages 221-338
Conclusion....Pages 339-341
Back Matter....Pages 343-386