Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI

این جلد شامل مجموعه‌ای از مقالات ارائه شده در موسسه مطالعات پیشرفته ناتو در مورد آزمایش و تشخیص VLSI و ULSI است که در ویلا اولمو، کومو (ایتالیا) از 22 ژوئن تا 3 ژوئیه 1987 برگزار شد. فناوری‌های با چگالی بالا مانند یکپارچه سازی در مقیاس بسیار بزرگ (VLSI)، یکپارچه سازی مقیاس ویفر (WSI) و وعده های نه چندان دور یکپارچه سازی در مقیاس فوق العاده (ULSI)، مشکلات مربوط به آزمایش و تشخیص این دستگاه ها و سیستم ها را تشدید کرده است. تکنیک ها به دلیل الزامات منحصر به فرد مانند کنترل پذیری و مشاهده پذیری محدود، افزایش پیچیدگی اجرا برای تولید بردار آزمون و هزینه بالای شبیه سازی خطا، به سرعت منسوخ می شوند، فقط به چند مورد اشاره می کنیم. ماهها چرخه چرخه چرخه برای یک تراشه کامپیوتری پیشرفته. اهمیت فرآیندهای تست و تشخیص در صورتی که هزینه ها باید در سطوح قابل قبول نگه داشته شوند، از اهمیت اولیه برخوردار است. هدف این NATO-ASI ارائه، تجزیه و تحلیل بود. و جنبه های مختلف آزمایش و تشخیص را با توجه به تئوری و عمل مورد بحث قرار دهید. محتویات این جلد منعکس کننده تنوع رویکردهای موجود برای کاهش زمان تست و تشخیص است. این رویکردها به صورت مختصر و در عین حال واضح توسط متخصصان مشهور این رشته شرح داده شده است. هدف مشارکت‌های آن‌ها برای خوانندگان گسترده است: محقق ناآشنا فصل‌های آموزشی را بسیار ارزشمند می‌یابد. متخصص با تکنیک های پیشرفته به شیوه ای بسیار جامع آشنا می شود.

This volume contains a collection of papers presented at the NATO Advanced Study Institute on ·Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI" held at Villa Olmo, Como (Italy) June 22 -July 3,1987. High Density technologies such as Very-Large Scale Integration (VLSI), Wafer Scale Integration (WSI) and the not-so-far promises of Ultra-Large Scale Integration (ULSI), have exasperated the problema associated with the testing and diagnosis of these devices and systema. Traditional techniques are fast becoming obsolete due to unique requirements such as limited controllability and observability, increasing execution complexity for test vector generation and high cost of fault simulation, to mention just a few. New approaches are imperative to achieve the highly sought goal of the • three months· turn around cycle time for a state-of-the-art computer chip. The importance of testing and diagnostic processes is of primary importance if costs must be kept at acceptable levels. The objective of this NATO-ASI was to present, analyze and discuss the various facets of testing and diagnosis with respect to both theory and practice. The contents of this volume reflect the diversity of approaches currently available to reduce test and diagnosis time. These approaches are described in a concise, yet clear way by renowned experts of the field. Their contributions are aimed at a wide readership: the uninitiated researcher will find the tutorial chapters very rewarding. The expert wiII be introduced to advanced techniques in a very comprehensive manner.