Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach

مدارهای یکپارچه آزمایش مقدمه برای عیوب ساخت شامل چهار رشته اساسی است. اول از همه درک منشاء و رفتار نقص. دوم، دانش طراحی آی سی و سبک های طراحی آی سی. ثالثاً، دانش نحوه ایجاد یک برنامه آزمایشی برای یک آی سی که هدف آن تشخیص این عیوب است، و در نهایت، درک سخت افزار، تجهیزات تست خودکار، برای اجرای آزمایش بر روی آن. قبل از اینکه اصطلاح "کیفیت IC" معنای مشخصی پیدا کند و یک آزمایش ارزش قابل اندازه گیری معینی پیدا کند، باید هر چهار مورد مورد بررسی، مدیریت و تا حد زیادی یکپارچه شوند. محتوای این کتاب منعکس کننده فعالیت های ما در زمینه مفاهیم آزمایش پذیری برای آی سی های دیجیتال پیچیده است که در آزمایشگاه های تحقیقاتی فیلیپس در آیندهوون، هلند انجام شده است. بر اساس اظهارات فوق، ما در یک برنامه بلند مدت که بر چهار رکن استوار بود، کار کرده ایم. 1. تعریف یک روش تست مناسب برای سبک های طراحی آی سی "آینده". استدلالی که ما دنبال کردیم به طور مداوم بر کیفیت IC متمرکز بود. کیفیت بر حسب توانایی تحویل دادن دستگاهی به مشتری بدون نقص ساخت باقی مانده بیان می شود. دستگاه های بد نباید از آزمایش فرار کنند. اساس کیفیت آی سی، درک کامل عیوب و مدل های نقص است.

Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. First of all an understanding of the origin and behaviour of defects. Secondly, knowledge of IC design and IC design styles. Thirdly, knowledge of how to create a test program for an IC which is targeted on detecting these defects, and finally, understanding of the hardware, Automatic Test Equipment, to run the test on. All four items have to be treated, managed, and to a great extent integrated before the term 'IC quality' gets a certain meaning and a test a certain measurable value. The contents of this book reflects our activities on testability concepts for complex digital ICs as performed at Philips Research Laboratories in Eindhoven, The Netherlands. Based on the statements above, we have worked along a long­ term plan, which was based on four pillars. 1. The definition of a test methodology suitable for 'future' IC design styles, 2. capable of handling improved defect models, 3. supported by software tools, and 4. providing an easy link to Automatic Test Equipment. The reasoning we have followed was continuously focused on IC qUality. Quality expressed in terms of the ability of delivering a customer a device with no residual manufacturing defects. Bad devices should not escape a test. The basis of IC quality is a thorough understanding of defects and defect models.