دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1st ed. نویسندگان: S. Jayanthy, M.C. Bhuvaneswari سری: ISBN (شابک) : 9789811324925 ناشر: Springer Singapore سال نشر: 2019 تعداد صفحات: 161 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 3 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب تولید آزمایش خطاهای تاخیر Crosstalk در مدارهای VLSI: مهندسی، مدارها و سیستمها، سازههای کنترل و ریزبرنامهنویسی، عملکرد و قابلیت اطمینان، طراحی منطقی
در صورت تبدیل فایل کتاب Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تولید آزمایش خطاهای تاخیر Crosstalk در مدارهای VLSI نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
This book describes a variety of test generation algorithms for testing crosstalk delay faults in VLSI circuits. It introduces readers to the various crosstalk effects and describes both deterministic and simulation-based methods for testing crosstalk delay faults. The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults. Given its depth of coverage, the book will be of interest to design engineers and researchers in the field of VLSI Testing.
Front Matter ....Pages i-xi
Introduction (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 1-14
Delay Fault Testing of VLSI Circuits (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 15-35
Test Generation Algorithms for Crosstalk Faults (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 37-55
An Automatic Test Generation Method for Crosstalk Delay Faults Using Modified FAN Algorithm (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 57-77
ATPG for Crosstalk Delay Faults using Single-Objective Genetic Algorithm (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 79-97
ATPG for Crosstalk Delay Faults Using Particle Swarm Optimization Algorithm (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 99-108
ATPG for Crosstalk Delay Faults Using Multi-objective Genetic Algorithm (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 109-123
Simulation of Asynchronous Sequential Circuits Using Fuzzy Delay Model for Crosstalk Delay Faults (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 125-139
Simulation Based Test Generation for Crosstalk Delay Faults in Asynchronous Sequential Circuits (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 141-150
Summary and Suggestions for Future Research (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 151-156