ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits

دانلود کتاب تولید آزمایش خطاهای تاخیر Crosstalk در مدارهای VLSI

Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits

مشخصات کتاب

Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits

ویرایش: 1st ed. 
نویسندگان: ,   
سری:  
ISBN (شابک) : 9789811324925 
ناشر: Springer Singapore 
سال نشر: 2019 
تعداد صفحات: 161 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 3 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 34,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب تولید آزمایش خطاهای تاخیر Crosstalk در مدارهای VLSI: مهندسی، مدارها و سیستم‌ها، سازه‌های کنترل و ریزبرنامه‌نویسی، عملکرد و قابلیت اطمینان، طراحی منطقی



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 12


در صورت تبدیل فایل کتاب Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تولید آزمایش خطاهای تاخیر Crosstalk در مدارهای VLSI نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب تولید آزمایش خطاهای تاخیر Crosstalk در مدارهای VLSI



توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book describes a variety of test generation algorithms for testing crosstalk delay faults in VLSI circuits. It introduces readers to the various crosstalk effects and describes both deterministic and simulation-based methods for testing crosstalk delay faults. The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults. Given its depth of coverage, the book will be of interest to design engineers and researchers in the field of VLSI Testing.



فهرست مطالب

Front Matter ....Pages i-xi
Introduction (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 1-14
Delay Fault Testing of VLSI Circuits (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 15-35
Test Generation Algorithms for Crosstalk Faults (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 37-55
An Automatic Test Generation Method for Crosstalk Delay Faults Using Modified FAN Algorithm (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 57-77
ATPG for Crosstalk Delay Faults using Single-Objective Genetic Algorithm (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 79-97
ATPG for Crosstalk Delay Faults Using Particle Swarm Optimization Algorithm (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 99-108
ATPG for Crosstalk Delay Faults Using Multi-objective Genetic Algorithm (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 109-123
Simulation of Asynchronous Sequential Circuits Using Fuzzy Delay Model for Crosstalk Delay Faults (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 125-139
Simulation Based Test Generation for Crosstalk Delay Faults in Asynchronous Sequential Circuits (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 141-150
Summary and Suggestions for Future Research (S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari)....Pages 151-156




نظرات کاربران