برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید

09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Test and diagnosis for small-delay defects

دانلود کتاب تست و تشخیص نقص با تاخیر کوچک

مشخصات کتاب

Test and diagnosis for small-delay defects

دسته بندی: ابزار
ویرایش: 1 
نویسندگان: Mohammad Tehranipoor,  Ke Peng,  Krishnendu Chakrabarty (auth.)  
سری:  
ISBN (شابک) : 9781441982971, 1441982973 
ناشر: Springer-Verlag New York 
سال نشر: 2012 
تعداد صفحات: 228 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 7 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 34,000

در صورت ایرانی بودن نویسنده امکان دانلود وجود ندارد و مبلغ عودت داده خواهد شد

کلمات کلیدی مربوط به کتاب تست و تشخیص نقص با تاخیر کوچک: مدارها و سیستم ها، عملکرد و قابلیت اطمینان، فناوری نانو و مهندسی میکرو

میانگین امتیاز به این کتاب :
تعداد امتیاز دهندگان : 2

در صورت تبدیل فایل کتاب Test and diagnosis for small-delay defects به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تست و تشخیص نقص با تاخیر کوچک نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب تست و تشخیص نقص با تاخیر کوچک

این کتاب تکنیک های جدیدی را برای تشخیص و تشخیص عیوب با تاخیر کوچک در مدارهای مجتمع معرفی می کند. اگرچه این نوع نقص زمان‌بندی معمولاً در مدارهای مجتمع تولید شده با فناوری نانومتر یافت می‌شود، این اولین کتابی است که روش‌های مؤثر و مقیاس‌پذیری را برای غربالگری و تشخیص عیوب با تاخیر کوچک، از جمله پارامترهای مهم مانند تغییرات فرآیند، تداخل و توان معرفی می‌کند. صدای عرضه

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.

فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-xviii
Introduction to VLSI Testing....Pages 1-19
Delay Test and Small-Delay Defects....Pages 21-36
Long Path-Based Hybrid Method....Pages 37-60
Process Variations- and Crosstalk-Aware Pattern Selection....Pages 61-82
Power Supply Noise- and Crosstalk-Aware Hybrid Method....Pages 83-104
SDD-Based Hybrid Method....Pages 105-118
Maximizing Crosstalk Effect on Critical Paths....Pages 119-137
Maximizing Power Supply Noise on Critical Paths....Pages 139-152
Faster-Than-At-Speed Test....Pages 153-173
Introduction to Diagnosis....Pages 175-192
Diagnosing Noise-Induced SDDs by Using Dynamic SDF....Pages 193-212