دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Eishi H. Ibe
سری:
ISBN (شابک) : 1118479297, 9781118479292
ناشر: Wiley
سال نشر: 2015
تعداد صفحات: 295
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 4 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب اثرات تابش زمینی در دستگاه های ULSI و سیستم های الکترونیکی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب اطلاعاتی در مورد طیف گسترده ای از زمینه های تشعشع و تأثیرات آنها بر دستگاه ها و سیستم های الکترونیکی در اختیار خواننده قرار می دهد. نویسنده خطاها و خرابیهای دستگاههای ULSI ناشی از طیف گستردهای از میدانهای تابشی، از جمله الکترونها، پرتوهای آلفا، میونها، پرتوهای گاما، نوترونها و یونهای سنگین را پوشش میدهد. خوانندگان یاد خواهند گرفت که چگونه از بینش های فیزیکی، مدل های عددی بسازند، تا نوع رویکردهای ریاضی را که باید برای تجزیه و تحلیل اثرات تشعشع اجرا شوند، تعیین کنند. طیف گستردهای از تکنیکهای پیشبینی، تشخیص، شناسایی و کاهش در برابر خطاهای نرم بررسی و مورد بحث قرار میگیرند. نویسنده نحوه مدلسازی اثرات پرتوهای پیچیده در مواد متراکم را به منظور کمیت و کنترل آنها نشان میدهد و توضیح میدهد که چگونه سیستمهای الکترونیکی شامل سرورها و روترها به دلیل تشعشعات محیطی خاموش میشوند.
این کتاب برای محققان و دانشجویان فارغالتحصیل در رشتههای پرتوهای هستهای و فضایی، فیزیک نیمههادیها و دستگاههای الکترونی و همچنین سایر حوزههای کاربردی مورد هدف قرار گرفته است. مدل سازی فیزیک محققان و دانشجویان علاقه مند به نحوه مدل سازی و درمان عددی انواع پدیده های فیزیکی نیز این کتاب را برای ارائه روش های مفید خواهند یافت.
This book provides the reader with knowledge on a wide variety of radiation fields and their effects on the electronic devices and systems. The author covers faults and failures in ULSI devices induced by a wide variety of radiation fields, including electrons, alpha-rays, muons, gamma rays, neutrons and heavy ions. Readers will learn how to make numerical models from physical insights, to determine the kind of mathematical approaches that should be implemented to analyze radiation effects. A wide variety of prediction, detection, characterization and mitigation techniques against soft-errors are reviewed and discussed. The author shows how to model sophisticated radiation effects in condensed matter in order to quantify and control them, and explains how electronic systems including servers and routers are shut down due to environmental radiation.
This book is targeted at researchers and graduate students in nuclear and space radiation, semiconductor physics and electron devices, as well as other areas of applied physics modelling. Researchers and students interested in how a variety of physical phenomena can be modelled and numerically treated will also find this book to present helpful methods.