Surface Infrared and Raman Spectroscopy: Methods and Applications

در نظر گرفته شده برای پر کردن شکاف بین کتابچه راهنمای سازنده، و بررسی مقالاتی که آخرین پیشرفت‌های علمی را برجسته می‌کنند. جلد چهارم به تکنیک‌هایی برای جابجایی نمونه، مصنوعات پرتو و پروفیل‌های عمقی می‌پردازد. مجموعه‌ای از روش‌هایی را ارائه می‌کند که برای جابجایی و درمان نمونه مفید هستند و همچنین به مصنوعات و مشکلات رایج مرتبط با بمباران سطوح جامد توسط فوتون‌ها، الکترون‌ها و یون‌ها می‌پردازد. توضیحی در مورد روش های پروفایل عمقی داده خواهد شد. اندازه‌گیری‌های توصیف سطح به طور فزاینده‌ای در حوزه‌های مختلف علم و فناوری استفاده می‌شوند. ما امیدواریم که این مجموعه در حصول اطمینان از اینکه این اندازه‌گیری‌ها می‌توانند تا حد امکان کارآمد و قابل اعتماد انجام شوند مفید باشد. نظرات در مورد این مجموعه، و همچنین پیشنهادات برای جلد در موضوعات اضافی مورد استقبال قرار می گیرد. C. J. Powell Gaithersburg، مریلند A. W. Czandema Golden، کلرادو D. M. Hercules Pittsburgh، Pennsylvania T. E. Madey New Brunswick، نیوجرسی J. T. Yates، جونیور

are intended to fill the gap between a manufacturer's handbook, and review articles that highlight the latest scientific developments. A fourth volume will deal with techniques for specimen handling, beam artifacts, and depth profiling. It will provide a compilation of methods that have proven useful for specimen handling and treatment, and it will also address the common artifacts and problems associated with the bombardment of solid sur­ faces by photons, electrons, and ions. A description will be given of methods for depth profiling. Surface characterization measurements are being used increasingly in di­ verse areas of science and technology. We hope that this series will be useful in ensuring that these measurements can be made as efficiently and reliably as possible. Comments on the series are welcomed, as are suggestions for volumes on additional topics. C. J. Powell Gaithersburg, Maryland A. W. Czandema Golden, Colorado D. M. Hercules Pittsburgh, Pennsylvania T. E. Madey New Brunswick, New Jersey J. T. Yates, Jr.