دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: Yongke Sun, Scott E. Thompson, Toshikazu Nishida (auth.) سری: ISBN (شابک) : 9781441905512, 9781441905529 ناشر: Springer US سال نشر: 2010 تعداد صفحات: 346 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 10 مگابایت
در صورت ایرانی بودن نویسنده امکان دانلود وجود ندارد و مبلغ عودت داده خواهد شد
کلمات کلیدی مربوط به کتاب اثر کرنش در نیمه هادی ها: نظریه و کاربردهای دستگاه: الکترونیک و میکروالکترونیک، ابزار دقیق، فیزیک حالت جامد، طیف سنجی و میکروسکوپ، مواد نوری و الکترونیکی
در صورت تبدیل فایل کتاب Strain Effect in Semiconductors: Theory and Device Applications به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب اثر کرنش در نیمه هادی ها: نظریه و کاربردهای دستگاه نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
اثر کرنش در نیمه هادی ها: تئوری و کاربردهای دستگاه اصول و کاربردهای کرنش در نیمه هادی ها و دستگاه های نیمه هادی را ارائه می دهد که برای فناوری پیشرفته CMOS با کرنش و MEMS پیزومقاومتی مبتنی بر کرنش مرتبط است. مبدل ها این کتاب کاربردهای مربوط به کرنش را مورد بحث قرار میدهد و در عین حال بر روی فیزیک بنیادی تمرکز میکند، زیرا آنها مربوط به نانو دستگاههای حجیم، مسطح و مقیاسشده هستند. نویسندگان اصلی یونگکه سان، اسکات تامپسون و توشیکازو نیشیدا نیز:
این کتاب به فناوری منطقی Si strained فعلی و همچنین برای درک فیزیک و مقیاسبندی دستگاههای در مقیاس نانو کرنش در آینده مرتبط است. این برای مهندسین دستگاه در تولید کنندگان نیمه هادی و همچنین دانشجویان فارغ التحصیل در حال تحصیل در رشته فیزیک دستگاه در دانشگاه ها عالی است.
Strain Effect in Semiconductors: Theory and Device Applications presents the fundamentals and applications of strain in semiconductors and semiconductor devices that is relevant for strain-enhanced advanced CMOS technology and strain-based piezoresistive MEMS transducers. The book discusses relevant applications of strain while also focusing on the fundamental physics as they pertain to bulk, planar, and scaled nano-devices. Lead authors Yongke Sun, Scott Thompson and Toshikazu Nishida also:
This book is relevant to current strained Si logic technology, as well as for understanding the physics and scaling of future strain nano-scale devices. It is perfect for practicing device engineers at semiconductor manufacturers, as well as graduate students studying device physics at universities.
Front Matter....Pages 1-10
Overview: The Age of Strained Devices....Pages 1-6
Front Matter....Pages 8-8
Stress, Strain, Piezoresistivity, and Piezoelectricity....Pages 9-21
Strain and Semiconductor Crystal Symmetry....Pages 23-49
Band Structures of Strained Semiconductors....Pages 51-135
Low-Dimensional Semiconductor Structures....Pages 137-182
Front Matter....Pages 184-184
Semiconductor Transport....Pages 185-232
Front Matter....Pages 234-234
Strain in Electron Devices....Pages 235-266
Piezoresistive Strain Sensors....Pages 267-290
Strain Effects on Optoelectronic Devices....Pages 291-325
Back Matter....Pages 1-23