ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Static Crosstalk-Noise Analysis: For Deep Sub-Micron Digital Designs (Solid Mechanics & Its Applications)

دانلود کتاب تجزیه و تحلیل استاتیک متقاطع-نویز: برای طراحی‌های دیجیتالی زیر میکرون عمیق (مکانیک جامدات و کاربردهای آن)

Static Crosstalk-Noise Analysis: For Deep Sub-Micron Digital Designs (Solid Mechanics & Its Applications)

مشخصات کتاب

Static Crosstalk-Noise Analysis: For Deep Sub-Micron Digital Designs (Solid Mechanics & Its Applications)

دسته بندی: ریاضیات کاربردی
ویرایش: 1 
نویسندگان: , , ,   
سری:  
ISBN (شابک) : 9781402080913, 1402080913 
ناشر:  
سال نشر: 2004 
تعداد صفحات: 126 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 6 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 56,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 24


در صورت تبدیل فایل کتاب Static Crosstalk-Noise Analysis: For Deep Sub-Micron Digital Designs (Solid Mechanics & Its Applications) به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل استاتیک متقاطع-نویز: برای طراحی‌های دیجیتالی زیر میکرون عمیق (مکانیک جامدات و کاربردهای آن) نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب تجزیه و تحلیل استاتیک متقاطع-نویز: برای طراحی‌های دیجیتالی زیر میکرون عمیق (مکانیک جامدات و کاربردهای آن)

همانطور که اندازه ویژگی در طرح های زیر میکرون عمیق کاهش می یابد، ظرفیت کوپلینگ به عامل غالب در ظرفیت کل تبدیل می شود. نویز تداخلی حاصل ممکن است مسئول مشکلات یکپارچگی سیگنال و تغییرات قابل توجه زمان باشد. به طور سنتی، ابزارهای تجزیه و تحلیل زمان بندی ایستا اثرات جفت متقابل بین سیم ها را به طور کلی نادیده می گیرند. ابزارهای جدیدتر به سادگی ظرفیت کوپلینگ را با ضریب 2X Miller تقریب می‌کنند تا بدترین حالت تاخیر را محاسبه کنند. رویکرد اخیر نه تنها دقت محاسبه تاخیر را کاهش می دهد، بلکه می تواند نشان داده شود که تاخیر در سناریوهای خاص را دست کم می گیرد. این کتاب روش های دقیق اما محافظه کارانه برای محاسبه تغییرات تاخیر به دلیل جفت شدن را شرح می دهد. علاوه بر این، بیشتر این روش‌ها از نظر محاسباتی به اندازه کافی کارآمد هستند تا در یک ابزار تحلیل زمان‌بندی استاتیک برای مدارهای دیجیتال مجتمع پیچیده استفاده شوند. برای دستیابی به دقت، محاسبه دقیق تری از عامل میلر به دست می آید. برای دستیابی به راندمان و دقت محاسباتی، مکانیسم‌های مختلفی برای هرس فضای جستجو به تفصیل ارائه شده است، از جمله: - هرس فضایی - کاهش متجاوزها به مجاورت فیزیکی، - هرس الکتریکی - کاهش متجاوزان توسط قدرت الکتریکی، - هرس موقت - کاهش مهاجمان. با استفاده از پنجره‌های زمان‌بندی، هرس عملکردی - کاهش مهاجمان با تحلیل عملکردی بولی.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

As the feature size decreases in deep sub-micron designs, coupling capacitance becomes the dominant factor in total capacitance. The resulting crosstalk noise may be responsible for signal integrity issues and significant timing variation. Traditionally, static timing analysis tools have ignored cross coupling effects between wires altogether. Newer tools simply approximate the coupling capacitance by a 2X Miller factor in order to compute the worst case delay. The latter approach not only reduces delay calculation accuracy, but can also be shown to underestimate the delay in certain scenarios. This book describes accurate but conservative methods for computing delay variation due to coupling. Furthermore, most of these methods are computationally efficient enough to be employed in a static timing analysis tool for complex integrated digital circuits. To achieve accuracy, a more accurate computation of the Miller factor is derived. To achieve both computational efficiency and accuracy, a variety of mechanisms for pruning the search space are detailed, including: -Spatial pruning - reducing aggressors to those in physical proximity, -Electrical pruning - reducing aggressors by electrical strength, -Temporal pruning - reducing aggressors using timing windows, -Functional pruning - reducing aggressors by Boolean functional analysis.





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی