برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید

09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications

دانلود کتاب بیضی سنجی طیف سنجی: اصول و کاربردها

مشخصات کتاب

Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications

دسته بندی: نورشناسی
ویرایش:  
نویسندگان: Fujiwara H.  
سری:  
ISBN (شابک) : 4621072536 
ناشر:  
سال نشر: 2007 
تعداد صفحات: 388 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 14 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 64,000

کلمات کلیدی مربوط به کتاب بیضی سنجی طیف سنجی: اصول و کاربردها: فیزیک، اپتیک

میانگین امتیاز به این کتاب :
تعداد امتیاز دهندگان : 10

در صورت تبدیل فایل کتاب Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب بیضی سنجی طیف سنجی: اصول و کاربردها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب بیضی سنجی طیف سنجی: اصول و کاربردها

بیضی سنجی ابزار قدرتمندی است که برای توصیف لایه های نازک و ساختارهای نیمه هادی چند لایه استفاده می شود. این کتاب به اصول اساسی و کاربردهای بیضی‌سنجی طیف‌سنجی (SE) می‌پردازد. در ابتدا با مروری بر فناوری‌های SE، متن روی تجزیه و تحلیل داده‌های نتایج به‌دست‌آمده از SE تمرکز می‌کند، تجزیه و تحلیل داده‌های بنیادی، اصول و پس‌زمینه‌های فیزیکی و مواد مختلف مورد استفاده در زمینه‌های مختلف از صنعت LSI تا بیوتکنولوژی شرح داده می‌شوند. فصل پایانی آخرین پیشرفت‌های نظارت و کنترل فرآیند را در زمان واقعی توصیف می‌کند که توجه قابل توجهی را در زمینه‌های مختلف علمی و صنعتی به خود جلب کرده است.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE). Beginning with an overview of SE technologies the text moves on to focus on the data analysis of results obtained from SE, Fundamental data analyses, principles and physical backgrounds and the various materials used in different fields from LSI industry to biotechnology are described. The final chapter describes the latest developments of real-time monitoring and process control which have attracted significant attention in various scientific and industrial fields.