دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Jean-Luc Autran. Daniela Munteanu
سری: Devices, Circuits, and Systems
ISBN (شابک) : 1466590831, 9781466590830
ناشر: CRC Press
سال نشر: 2015
تعداد صفحات: 432
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 23 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Soft Errors: From Particles to Circuits به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب خطاهای نرم: از ذرات تا مدارها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب به خطاهای نرم در مدارهای مجتمع دیجیتالی می پردازد که در معرض محیط تابش طبیعی زمین قرار دارند. مکانیسمهای فیزیکی در منشأ خطاهای نرم را به تفصیل شرح میدهد و چگونگی شناسایی، توصیف و شبیهسازی این پدیدهها را در مدارهای الکترونیکی توضیح میدهد. این دانش عملی و بررسی پیشرفتهای از پیشرفتهای ابزار دقیق در زمینههای مشخصسازی محیط، تشخیص ذرات، و آزمایشهای خطای نرمافزار سریع/زمان واقعی ارائه میدهد، و همچنین پیشرفتهای محاسباتی اخیر و مدلسازی و استراتژیهای شبیهسازی را برای تخمین نرخ خطای نرم در مدارهای دیجیتالی پیشرفته.
This book addresses soft errors in digital integrated circuits subjected to the terrestrial natural radiation environment. It details the physical mechanisms at the origin of soft errors and explains how to detect, characterize, and simulate these phenomena in electronic circuits. It offers a practical knowledge and state-of-the-art survey of instrumentation developments in the fields of environment characterization, particle detection, and real-time/accelerated soft error tests, as well as examines recent computational advances and modeling and simulation strategies for the soft error rate estimation in cutting-edge digital circuits.